[发明专利]一种用于变压器绕组变形测试仪校准的数据获取装置在审

专利信息
申请号: 202010271523.5 申请日: 2020-04-08
公开(公告)号: CN111323740A 公开(公告)日: 2020-06-23
发明(设计)人: 燕鸣;李诺;郝松;金月红;张圣男;杨鸣;孙家林;陈乔溪;梁国鼎;刘延博 申请(专利权)人: 辽宁省计量科学研究院
主分类号: G01R35/00 分类号: G01R35/00
代理公司: 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 代理人: 李飞
地址: 110000 辽*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 变压器 绕组 变形 测试仪 校准 数据 获取 装置
【权利要求书】:

1.一种用于变压器绕组变形测试仪校准的数据获取装置,其特征在于,所述数据获取装置包括扫频信号发生器、信号整形器和处理器,其中,

所述处理器,用于获取扫频信号参数和所述变压器绕组变形测试仪的单次运行时间,并发送所述扫频信号设置参数和所述单次运行时间至所述扫频信号发生器;

所述信号整形器,用于获取所述变压器绕组变形测试仪输出的开始信号,对所述开始信号进行整形处理得到触发信号,并发送所述触发信号至所述扫频信号发生器;

所述扫频信号发生器与所述处理器和所述信号整形器件相连接,用于接收所述扫频信号设置参数和所述单次运行时间,并在接收到所述触发信号时输出与所述扫频信号设置参数和所述单次运行时间相对应的两路扫频信号,以使所述变压器绕组变形测试仪进行测试并得到测试结果数据;其中,所述扫频信号设置参数用于固定所述两路扫频信号的相位差和幅度差。

2.根据权利要求1所述的用于变压器绕组变形测试仪校准的数据获取装置,其特征在于,所述数据获取装置还包括测时器,其中,

所述测时器分别与所述处理器和所述变压器绕组变形测试仪两者相连接,用于检测变压器绕组变形测试仪的单次运行时间,并发送所述单次运行时间至所述处理器。

3.根据权利要求1所述的用于变压器绕组变形测试仪校准的数据获取装置,其特征在于,所述处理器还用于获取所述扫频信号设置参数和所述测试结果数据,并根据所述扫频信号设置参数和所述测试结果数据进行计算,得到校准数据。

4.根据权利要求1所述的用于变压器绕组变形测试仪校准的数据获取装置,其特征在于,所述扫频信号发生器包括电源适配电路、通讯电路、同步电路、第一直接数字式频率合成器电路、第二直接数字式频率合成器电路以及微处理器,其中,

所述电源适配电路与所述微处理器相连接,用于为所述微处理器供电;

所述通讯电路与所述微处理器相连接,用于接收所述扫频信号设置参数和所述单次运行时间;

所述同步电路与所述微处理器相连接,用于接收所述触发信号;

所述第一直接数字式频率合成器电路与所述微处理器相连接,用于在所述同步电路接收到所述触发信号时输出与所述扫频信号设置参数和所述单次运行时间相对应的一路扫频信号;

所述第二直接数字式频率合成器电路与所述微处理器相连接,用于在所述同步电路接收到所述触发信号时输出与所述扫频信号设置参数和所述单次运行时间相对应的另一路扫频信号;其中,两路扫频信号具有固定相位差和幅度差;

所述微处理器,用于对所述通讯电路、所述同步电路、所述第一直接数字式频率合成器电路以及所述第二直接数字式频率合成器电路进行供电、数据信号传输以及数据信号处理的操作。

5.根据权利要求4所述的用于变压器绕组变形测试仪校准的数据获取装置,其特征在于,所述扫频信号发生器还包括控制电路和显示电路,其中,

所述控制电路与所述微处理器相连接,用于接收对所述微处理器进行控制的控制信号;

所述显示电路与所述微处理器相连接,用于显示所述微处理器包括的数据信息。

6.根据权利要求5所述的用于变压器绕组变形测试仪校准的数据获取装置,其特征在于,所述通讯电路、所述控制电路、所述显示电路以及所述同步电路分别通过不同的光电隔离电路与所述微处理器相连接。

7.根据权利要求4所述的用于变压器绕组变形测试仪校准的数据获取装置,其特征在于,所述电源适配电路包括三端电源插头、隔离变压器、电源滤波电路、整流稳压电路以及低压电源转换电路,其中,

所述三端电源插头,用于获取电源信号;

所述隔离变压器与所述三端电源插头相连接,用于变压传输所述电源信号;

所述电源滤波电路与所述隔离变压器相连接,用于对所述电源信号进行滤波得到滤波电源信号;

所述整流稳压电路与所述电源滤波电路相连接,用于对所述滤波电源信号进行整流稳压,得到直流电信号;

所述低压电源转换电路与所述整流稳压电路和所述微处理器相连接,用于降压输出所述直流电信号为所述微处理器供电。

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