[发明专利]检测单元有效

专利信息
申请号: 202010225545.8 申请日: 2020-03-26
公开(公告)号: CN111746638B 公开(公告)日: 2023-07-28
发明(设计)人: 藤田敏博 申请(专利权)人: 株式会社电装
主分类号: B62D15/02 分类号: B62D15/02;H02K11/215;H02K11/30;H02K11/33
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 王萍;杨林森
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 检测 单元
【权利要求书】:

1.一种检测单元,包括:

传感器(131、231),其包括:

检测元件(141、142、241、242),被配置成检测物理量的变化,并且包括主元件(141、241)和监测所述主元件的副元件(142、242);

计算器单元(151、152、251、252),被配置成根据所述检测元件检测到的物理量来计算检测值;

传感器存储器(155、156、255、256),被配置成存储传感器间误差校正值,所述传感器间误差校正值与所述主元件、所述副元件和所述计算器单元一起校正在所述主元件和所述副元件当中的检测误差,以及

控制器(70、170、270),其包括:

非易失性存储器(75、175、275),被配置成存储用于校正同一检测值的检测误差的多个校正值;

异常确定器(72、172、272),被配置成确定所述校正值的异常;以及

控制计算器(71、171、271),被配置成通过使用由确定为正常的校正值进行了校正的检测值来执行控制计算,其中

所述传感器通过存储在所述传感器存储器中的所述传感器间误差校正值来校正所述副元件的检测值,并将校正后的值输出至所述控制器,

所述校正值被以预定比率分为控制器侧校正值和传感器侧校正值,

所述控制器侧校正值被存储在所述非易失性存储器中,并且

所述传感器侧校正值被存储在所述传感器存储器中。

2.根据权利要求1所述的检测单元,其中,

所述主元件(141、241)产生常态确定用于在所述控制计算器的计算中使用的检测值;并且

所述校正值是用于校正所述主元件的检测误差的值。

3.根据权利要求1或2所述的检测单元,其中,

传感器和从所述传感器接收所述检测值的控制器以多组提供,

在所述传感器中利用参考值进行校正后的检测值从所述传感器输出至所述控制器,并且

以多组提供的所述控制器通过通信共享所述校正值。

4.根据权利要求1或2所述的检测单元,其中,

所述控制器以多个单元提供,

用于校正同一检测值的所述多个校正值分别存储在不同控制器的非易失性存储器中。

5.根据权利要求1或2所述的检测单元,其中,

用于校正同一检测值的所述多个校正值分别存储为不同的数据。

6.一种使用传感器和控制器来确保检测精度的方法,包括:

使用所述传感器的检测元件来检测物理量的变化,所述检测元件包括主元件和监测所述主元件的副元件;

使用所述传感器的计算器单元根据检测到的物理量来计算检测值;

在所述传感器的传感器存储器中存储传感器间误差校正值,所述传感器间误差校正值与所述主元件、所述副元件和所述计算器单元一起校正在所述主元件和所述副元件当中的检测误差;

在所述控制器的非易失性存储器中存储用于校正同一检测值的检测误差的多个校正值;

使用所述控制器的异常确定器来确定所述校正值的异常;以及

使用所述控制器的控制计算器通过使用由确定为正常的校正值进行了校正的检测值来执行控制计算,其中:

所述传感器通过存储在所述传感器存储器中的所述传感器间误差校正值来校正所述副元件的检测值,并将校正后的值输出至所述控制器,

所述校正值被以预定比率分为控制器侧校正值和传感器侧校正值,

所述控制器侧校正值被存储在所述非易失性存储器中,并且

所述传感器侧校正值被存储在所述传感器存储器中。

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