[发明专利]电子产品的缺陷检测方法、装置及计算机可读存储介质

说明书

本申请适用于图像检测技术领域，提供了电子产品的缺陷检测方法、装置及计算机可读存储介质，包括：获取所述电子产品在熄屏状态下的熄屏图片；根据所述熄屏图片确定灰尘在所述显示屏的坐标；获取所述电子产品在亮屏状态下的亮屏图片；根据所述亮屏图片以及所述电子产品的标准特征识别所述电子产品的可疑特征，所述可疑特征为与所述电子产品的标准特征不相同的特征；若识别出的所述可疑特征在所述显示屏的坐标与所述灰尘在所述显示屏的坐标相同，则判定所述可疑特征是灰尘；若识别出的所述可疑特征在所述显示屏的坐标与所述灰尘在所述显示屏的坐标不同，则判定所述可疑特征是所述电子产品的缺陷的特征。通过上述方法能够提高缺陷的检测准确度。

技术领域

本申请属于图像检测技术领域，尤其涉及电子产品的缺陷检测方法、装置及计算机可读存储介质。

背景技术

目标检测算法，是指从图像中检测符合目标特征的算法。

目前，通过目标检测算法，可以将目标从图像识别出来。比如在工业检测领域，可以先拍摄成品的图像，再通过检查图像中呈现的缺陷，以达到缺陷检测的目的。但是通过目标检测算法检测缺陷时仍存在误检的情况，从而导致检测的准确率较低。

故，需要提出一种新的方法，以解决上述技术问题。

发明内容

本申请实施例提供了电子产品的缺陷检测方法、装置及计算机可读存储介质，可以解决现有方法通过目标检测算法检测产品的缺陷时，准确率较低的问题。

第一方面，本申请实施例提供了一种电子产品的缺陷检测方法，所述电子产品具有显示屏，包括：

获取所述电子产品在熄屏状态下的熄屏图片；

根据所述熄屏图片确定灰尘在所述显示屏的坐标；

获取所述电子产品在亮屏状态下的亮屏图片；

根据所述亮屏图片以及所述电子产品的标准特征识别所述电子产品的可疑特征，所述可疑特征为与所述电子产品的标准特征不相同的特征；

若识别出的所述可疑特征在所述显示屏的坐标与所述灰尘在所述显示屏的坐标相同，则判定所述可疑特征是灰尘；

若识别出的所述可疑特征在所述显示屏的坐标与所述灰尘在所述显示屏的坐标不同，则判定所述可疑特征是所述电子产品的缺陷的特征。

本申请实施例与现有技术相比存在的有益效果是：

分别获取电子产品在熄屏状态下的熄屏图片和在亮屏状态下的亮屏图片，并通过熄屏图片检测出灰尘的坐标，以及，通过亮屏图片检测出可疑特征及对应的坐标，比较灰尘的坐标与可疑特征的坐标，若两者相同，判定该可疑特征为灰尘，否则，判定该可疑特征为缺陷的特征。由于上述缺陷检测方法排除了将灰尘误检测为缺陷的情况，因此，能够提高缺陷的检测准确度。

第二方面，本申请实施例提供了一种电子产品的缺陷检测装置，所述电子产品具有显示屏，包括：

熄屏图片获取单元，用于获取所述电子产品在熄屏状态下的熄屏图片；

灰尘坐标确定单元，用于根据所述熄屏图片确定灰尘在所述显示屏的坐标；

亮屏图片获取单元，用于获取所述电子产品在亮屏状态下的亮屏图片；

可疑特征识别单元，用于根据所述亮屏图片以及所述电子产品的标准特征识别所述电子产品的可疑特征，所述可疑特征为与所述电子产品的标准特征不相同的特征；

灰尘判定单元，用于若识别出的所述可疑特征在所述显示屏的坐标与所述灰尘在所述显示屏的坐标相同，则判定所述可疑特征是灰尘；

缺陷判定单元，用于若识别出的所述可疑特征在所述显示屏的坐标与所述灰尘在所述显示屏的坐标不同，则判定所述可疑特征是所述电子产品的缺陷的特征。