[发明专利]电子产品的缺陷检测方法、装置及计算机可读存储介质

权利要求书

1.一种电子产品的缺陷检测方法，其特征在于，所述电子产品具有显示屏，包括：

获取所述电子产品在熄屏状态下的熄屏图片；

根据所述熄屏图片确定灰尘在所述显示屏的坐标；

获取所述电子产品在亮屏状态下的亮屏图片；

根据所述亮屏图片以及所述电子产品的标准特征识别所述电子产品的可疑特征，所述可疑特征为与所述电子产品的标准特征不相同的特征；

若识别出的所述可疑特征在所述显示屏的坐标与所述灰尘在所述显示屏的坐标相同，则判定所述可疑特征是灰尘；

若识别出的所述可疑特征在所述显示屏的坐标与所述灰尘在所述显示屏的坐标不同，则判定所述可疑特征是所述电子产品的缺陷的特征。

2.如权利要求1所述的电子产品的缺陷检测方法，其特征在于，所述获取所述电子产品在熄屏状态下的熄屏图片，包括：

确认所述电子产品周围的环境光是否符合要求，若符合要求，则获取所述电子产品在熄屏状态下的熄屏图片。

3.如权利要求2所述的电子产品的缺陷检测方法，其特征在于，所述根据所述熄屏图片确定灰尘在所述显示屏的坐标，包括：

将所述熄屏图片转换为灰度图，确定所述灰度图中灰度值与相邻位置的灰度值的差大于或等于预设差值阈值的位置，将所述位置的坐标记录为灰尘在所述显示屏的坐标。

4.如权利要求1所述的电子产品的缺陷检测方法，其特征在于，所述电子产品在亮屏状态时具有纯色的背景图片，此时，所述获取所述电子产品在亮屏状态下的亮屏图片，包括：

获取所述电子产品在亮屏状态下不同背景图片对应的亮屏图片。

5.如权利要求1所述的电子产品的缺陷检测方法，其特征在于，所述若识别出的所述可疑特征在所述显示屏的坐标与所述灰尘在所述显示屏的坐标相同，则判定所述可疑特征是灰尘的特征，包括：

若识别出的所述可疑特征在所述显示屏的坐标与所述灰尘在所述显示屏的坐标相同，且所述灰尘的特征与所述可疑特征的相似度大于或等于预设的相似度阈值，则判定所述可疑特征是灰尘的特征。

6.如权利要求5所述的电子产品的缺陷检测方法，其特征在于，所述缺陷检测方法还包括：

若识别出的所述可疑特征在所述显示屏的坐标与所述灰尘在所述显示屏的坐标相同，且所述灰尘的特征与所述可疑特征的相似度小于预设的相似度阈值，则判定所述可疑特征是所述电子产品的缺陷的特征。

7.如权利要求1至6任一项所述的电子产品的缺陷检测方法，其特征在于，所述熄屏图片和亮屏图片通过拍摄设备拍摄得到，此时，所述缺陷检测方法还包括：

统计预设时间段内的电子产品的合格率，若所述电子产品的合格率小于或等于预设的合格率阈值，指示用户检测所述拍摄设备的镜头是否存在灰尘。

8.一种电子产品的缺陷检测装置，其特征在于，所述电子产品具有显示屏，包括：

熄屏图片获取单元，用于获取所述电子产品在熄屏状态下的熄屏图片；

灰尘坐标确定单元，用于根据所述熄屏图片确定灰尘在所述显示屏的坐标；

亮屏图片获取单元，用于获取所述电子产品在亮屏状态下的亮屏图片；

可疑特征识别单元，用于根据所述亮屏图片以及所述电子产品的标准特征识别所述电子产品的可疑特征，所述可疑特征为与所述电子产品的标准特征不相同的特征；

灰尘判定单元，用于若识别出的所述可疑特征在所述显示屏的坐标与所述灰尘在所述显示屏的坐标相同，则判定所述可疑特征是灰尘；

缺陷判定单元，用于若识别出的所述可疑特征在所述显示屏的坐标与所述灰尘在所述显示屏的坐标不同，则判定所述可疑特征是所述电子产品的缺陷的特征。

9.一种电子设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至7任一项所述的方法。

10.一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7任一项所述的方法。