[发明专利]亮度不均匀补偿方法、装置和显示面板有效
| 申请号: | 202010171559.6 | 申请日: | 2020-03-12 |
| 公开(公告)号: | CN113393811B | 公开(公告)日: | 2022-06-28 |
| 发明(设计)人: | 刘子涵;陈宥烨 | 申请(专利权)人: | 咸阳彩虹光电科技有限公司 |
| 主分类号: | G09G3/34 | 分类号: | G09G3/34 |
| 代理公司: | 深圳精智联合知识产权代理有限公司 44393 | 代理人: | 夏声平 |
| 地址: | 712000 陕*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 亮度 不均匀 补偿 方法 装置 显示 面板 | ||
本发明涉及一种亮度不均匀补偿方法、装置及显示面板,所述方法包括:获取亮度不均匀信息及其灰阶补偿数据;将所述补偿数据以非等间距补偿表进行储存;开机后读取所述补偿表对待显示的灰阶数据进行补偿;输出补偿后的灰阶数据进行画面显示;其中,所述非等间距补偿表在垂直和水平方向均为非等间距。通过动态可变块容量模式,对常规亮度不均匀使用8X8块容量,对较小亮度不均匀选择更高精度的块容量,在有效节约存储器空间的情况下,补偿精度较高的亮度不均匀,可节省Flash容量和TCON内的SRAM容量,可实现不同面板的差异化补偿。
技术领域
本发明属于液晶显示技术领域,具体涉及亮度不均匀补偿方法、装置和显示面板。
背景技术
现有的液晶显示器大部分为背光型液晶显示器,包括壳体、设于壳体内的液晶面板(panel)和背光模组。通常液晶面板由一彩色滤光片(Color Filter,CF)基板、一薄膜晶体管(Thin Film Transistor,TFT)阵列基板以及一填充于两基板间的液晶层所构成,其工作原理是通过在CF基板和TFT阵列基板上施加驱动电压来控制液晶层中的液晶分子旋转,从而控制光的输出量,将背光模组的光线折射出来产生画面。
在显示面板制作完成之后,由于制程工艺的限制,各个显示面板均会产生不同程度的亮度不均匀(mura或灰阶mura)现象,现有的Demura(亮度不均匀补偿)技术就是针对显示面板在生产过程中造成的亮度不均匀现象的补偿技术,用以补偿显示面板mura区域的灰阶。Demura技术是先通过CCD相机拍摄面板在不同灰阶的画面,获取或提取面板的mura信息,然后根据该显示画面的亮暗差异通过算法得出mura的灰阶补偿数据,最终得到所选灰阶的补偿表(Demura table)供硬件调用进行修正,补偿表通常烧录在存储设备(例如Flash)中。
时序控制器(Tcon IC或TCON)上电后先通过所述灰阶补偿数据对待显示的灰阶数据进行补偿,然后再输出补偿后的灰阶数据进行画面显示,从而提高显示面板的亮暗均一性。
然而,现有的Demura技术按照固定的Block size(区块大小、块容量或区域范围)做数据压缩,如分辨率为3840X2160的面板常用的Block size为8X8,即每8X8大小的像素共用一个补偿(数据)值,因此存储在Flash中的每个补偿表大小为481X271,其他像素点的补偿数据通过插值计算获得;这种方法具有效率高,节约成本的特点,但是也存在一些缺点,例如:
1.对于小于8X8像素的mura,如暗点、亮点,受Block size精度限制,无法补偿;
2.对于锐度较大的mura类型,如H-line(水平线)mura、V-line(垂直线)mura等缺陷,插值计算方式无法抹平这种缺陷,补偿效果差;
3.提高Block size精度,可以解决上述问题,但是统一提高Block size精度时,所需补偿表增加,进而资料(数据)量增加,如附图1所示,使得Flash容量和TCON内的SRAM(Static Random-Access Memory,静态随机存取存储器)容量需求大幅增加,继而增加硬件成本,而现行4K屏使用的Demura flash通常仅为8Mbits(兆比特)。
发明内容
为了解决现有技术中存在的至少一种问题,本发明提供了亮度不均匀补偿(Demura)方法、装置和显示面板。本发明要解决的技术问题通过以下技术方案实现:
本发明的一个方面提供了一种亮度不均匀补偿(Demura)方法,包括:
步骤一、获取亮度不均匀(mura)信息及其灰阶补偿数据;
步骤二、将所述非等间距补偿数据以非等间距补偿表进行储存;
步骤三、开机后读取所述补偿表对待显示的灰阶数据进行补偿;
步骤四、输出补偿后的灰阶数据进行画面显示;
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