[发明专利]一种基于深度学习的超材料太赫兹谱学识别方法有效

专利信息
申请号: 202010155724.9 申请日: 2020-03-09
公开(公告)号: CN111428585B 公开(公告)日: 2022-04-19
发明(设计)人: 孙钰;吴晓君;张伟豪 申请(专利权)人: 北京航空航天大学
主分类号: G06K9/00 分类号: G06K9/00;G06K9/62;G06V10/774;G06V10/764;G06N3/04;G06N3/08
代理公司: 北京航智知识产权代理事务所(普通合伙) 11668 代理人: 陈磊;张桢
地址: 100191*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 深度 学习 材料 赫兹 识别 方法
【权利要求书】:

1.一种基于深度学习的超材料太赫兹谱学识别方法,其特征在于,包括以下步骤:

S1:通过太赫兹时域光谱仪对待测样品进行时域数据采集;

S2:数据预处理;

S2-1:对步骤S1的时域数据进行数据扩增;

S2-2:将步骤S2-1获得的数据经过傅里叶变换转换成频域数据;

S2-3:将步骤S2-2获得的频域数据按列进行L2范数归一化;

S2-4:将步骤S2-3获得的数据随机分为训练数据集和测试数据集,所述训练数据集和所述测试数据集均分为两类标签:有超材料和无超材料;

S3:卷积神经网络训练,所述卷积神经网络包括输入层、第一层卷积层、第二层卷积层、Flatten层和全连接层,具体方法如下:

S3-1:定义并初始化参数,定义一次训练所选取的样本数batch size为4,epochs为100次,学习率为0.001;

S3-2:将训练数据集输入所述输入层,输入的数据即n个长度为61的一维向量,n为数据个数;

S3-3:第一层卷积层对步骤S3-2的n个长度为61的一维向量进行卷积,定义32个长度为3的卷积核,按步长为2进行特征提取,输出30×32的矩阵,输出矩阵的每一列都包含一个滤波器的权值,每个过滤器将包含30个权重值;

S3-4:将步骤S3-3的结果输入到第二层卷积层中,定义8个长度为3的卷积核,按步长为2进行特征提取,输出为14×8的矩阵;

S3-5:使用Flatten层将第二层卷积层的输出压平,把多维输入一维化为112个;

S3-6:将步骤S3-5的结果输入全连接层,把长度为112的向量降为长度为2的向量,输出二分类结果;

S3-7:采用交叉熵损失函数计算损失,反向传播,通过RMSprop优化器更新每一层的参数,重复步骤S3-3至步骤S3-6直到epochs达到100次,损失收敛,训练完成;

S4:将测试数据集输入经过步骤S3训练的卷积神经网络中,根据输出结果即可区分混合物质中有无超材料。

2.根据权利要求1所述的一种基于深度学习的超材料太赫兹谱学识别方法,其特征在于,所述步骤S2-1的数据扩增的方法为压缩、拉伸或添加噪声。

3.根据权利要求1所述的一种基于深度学习的超材料太赫兹谱学识别方法,其特征在于,所述步骤S2-4的所述训练数据集和所述测试数据集的数量的比例是4:1。

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