[发明专利]基板玻璃缺陷检测方法及装置

说明书

本公开涉及一种基板玻璃缺陷检测方法及装置，该基板玻璃缺陷检测方法包括：将基板玻璃沿其厚度方向均匀地分成N个检测层，N为≥4的自然数并为4的倍数；设定第1层检测层至第N/4层检测层为基板玻璃的第一比对区域，第N/4+1层检测层至第3N/4层检测层设定为基板玻璃的第二比对区域，第3N/4+1层检测层至第N层检测层设定为基板玻璃的第三比对区域；对基板玻璃的缺陷位置处的各检测层进行图像采集；对所采集的图像进行识别，并通过将其与所对应的对比区域的标准缺陷尺寸进行比对，以判断是否符合标准。该种检测方法便于判断基板玻璃是否合格、且检测精度高。

技术领域

本公开涉及基板玻璃制造加工领域，具体地，涉及一种基板玻璃缺陷检测方法及装置。

背景技术

液晶基板玻璃是显示领域的基板，广泛应用于各种显示器中。随着显示领域对像素和对比度要求的提高，液晶基板玻璃的缺陷也要更少更小。

液晶基板玻璃的缺陷主要表现为玻璃表面和玻璃内部的气泡、铂金、灰尘、结石等，而液晶基板玻璃的缺陷要求是：工作面缺陷尺寸不大于0.02毫米，内部缺陷尺寸不大于0.05毫米，非工作面缺陷尺寸不大于0.1毫米。

由于面检相机要检查整块液晶基板玻璃，只能拍到缺陷大概外形，无法确认缺陷具体尺寸和层次，不能判断所检测液晶基板玻璃是否合格。这就要求在检验液晶基板玻璃时，检验员要对面检发现的缺陷进行复检，判断缺陷大小及层次。由于液晶基板玻璃是透明的，缺陷尺寸较小，利用人工肉眼观察难以判断具体层次及大小且检查效率低。

发明内容

本公开的目的是提供一种基板玻璃缺陷检测方法及装置，该基板玻璃缺陷检测方法便于判断基板玻璃是否合格、且检测精度高。

为了实现上述目的，本公开提供一种基板玻璃缺陷检测方法，所述基板玻璃缺陷检测方法包括：将基板玻璃沿其厚度方向均匀地分成N个检测层，N为≥4的自然数并为4的倍数；设定第1层检测层至第N/4层检测层为所述基板玻璃的第一比对区域，第N/4+1层检测层至第3N/4层检测层设定为所述基板玻璃的第二比对区域，第3N/4+1层检测层至第N层检测层设定为所述基板玻璃的第三比对区域；对所述基板玻璃的缺陷位置处的各检测层进行图像采集；对所采集的图像进行识别，并通过将其与所对应的对比区域的标准缺陷尺寸进行比对，以判断是否符合标准。

可选地，所述对所述基板玻璃的缺陷位置处的各检测层进行图像采集包括：通过图像采集设备的变焦来实现对N个检测层的分别检测。

可选地，所述基板玻璃的厚度为0.4mm或0.8mm，N为4，或N为8，或N为16。

可选地，所述第一比对区域的标准缺陷尺寸为不大于0.02mm，所述第二比对区域的标准缺陷尺寸为不大于0.05mm，所述第三比对区域的标准缺陷尺寸为不大于0.1mm。

本公开还提供一种基板玻璃缺陷检测装置，所述基板玻璃检测装置可根据所述的基板玻璃缺陷检测方法对所述基板玻璃进行缺陷检测，其包括控制单元、用于对所述基板玻璃的缺陷位置进行图像采集的可变焦的摄像单元；所述摄像单元包括驱动部、可移动的物侧透镜、固定设置的摄像单元本体、以及与所述摄像单元本体固定连接的像侧透镜，所述驱动部根据所述控制单元发送的控制指令驱动所述物侧透镜沿其中心线方向移动，以实现对所述缺陷位置处N个检测层的聚焦及图像采集；所述控制单元用于对所述摄像单元所采集的图像进行识别，并通过将其与所对应的对比区域的标准缺陷尺寸进行比对，以判断是否符合标准。

可选地，所述基板玻璃缺陷检测装置还包括用于对所述基板玻璃的缺陷位置进行照明的光源，所述光源的中心线与所述物侧透镜的中心线重合，以使所述光源发射出的光束沿所述摄像单元的图像采集路径射向所述缺陷位置。

可选地，所述光源选用LED发光二极管，以发射出波长在400-800nm之间、光束发散性为37°且辐射面积大于10mm²的可见光。