[发明专利]图像噪声点的判断方法及装置有效
| 申请号: | 202010116735.6 | 申请日: | 2020-02-25 |
| 公开(公告)号: | CN111340777B | 公开(公告)日: | 2023-10-13 |
| 发明(设计)人: | 吴汉俊;王彬;陈瑶 | 申请(专利权)人: | 深圳市景阳科技股份有限公司 |
| 主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00 |
| 代理公司: | 深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414 | 代理人: | 刘永康 |
| 地址: | 518000 广东省深圳市南*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 图像 噪声 判断 方法 装置 | ||
本申请属于图像处理领域,提供了一种图像高频噪声点的判断方法及装置,该方法包括:获取待处理图像中各个像素点对应的预设尺寸的邻域窗口,若像素点的第一像素值小于像素点对应的邻域窗口内所有像素点的第一像素值的平均值,且像素点对应的邻域窗口内,第一像素值大于平均值的邻域像素点的数量大于第一预设阈值,则判定像素点为高频噪声点;或者,若像素点的第一像素值大于像素点对应的邻域窗口内所有像素点的第一像素值的平均值,且像素点对应的邻域窗口内,第一像素值小于平均值的邻域像素点的数量大于第二预设阈值,则判定像素点为高频噪声点。本申请一定程度上可以解决高频噪声点与图像的细节信息难区分的问题。
技术领域
本申请属于图像处理领域,尤其涉及一种图像噪声点的判断方法及装置。
背景技术
在图像传感器电荷耦合器件(Charge Coupled Device,CCD)或者图像传感器互补金属氧化物半导体器件(Complementary Metal Oxide Semiconductor,CMOS)采集图像过程中,由于受图像传感器材料属性、工作环境、电子元器件以及电路结构等的影响,会引入各种噪声,比如热噪声、电路噪声以及读出噪声等。同时,由于传输介质和记录设备等的不完善,图像在传输记录过程中往往也会受到多种噪声的污染。因此,最后我们得到的图像上会存在各种各样的噪声,从而影响图像的清晰度和视觉效果。因此,为了得到较清晰的图像以及获取较好的视觉效果,需要使用去噪算法对图像进行去噪处理。
然而,由于高频信号中包含了高频噪声以及图像的细节信息,导致在对图像进行去噪处理过程中,很难将高频噪声以及图像的细节信息区分开,从而导致在去除高频噪声的同时误去除了图像的细节信息。
发明内容
本申请实施例提供了一种图像高频噪声点的判断方法及装置,可以一定程度上解决高频噪声点与图像的细节信息难区分的问题。
第一方面,本申请实施例提供了一种图像高频噪声点的判断方法,包括:
获取待处理图像中各个像素点对应的预设尺寸的邻域窗口,其中,上述像素点为上述像素点对应的邻域窗口的中心像素点,上述邻域窗口内除中心像素点以外的像素点为邻域像素点;
若上述像素点的第一像素值小于上述像素点对应的邻域窗口内所有像素点的第一像素值的平均值,且上述像素点对应的邻域窗口内,第一像素值大于上述平均值的邻域像素点的数量大于第一预设阈值,则判定上述像素点为高频噪声点;
或者,若上述像素点的第一像素值大于上述像素点对应的邻域窗口内所有像素点的第一像素值的平均值,且上述像素点对应的邻域窗口内,第一像素值小于上述平均值的邻域像素点的数量大于第二预设阈值,则判定上述像素点为高频噪声点。
第二方面,本申请实施例提供了一种图像高频噪声点的判断装置,包括:
邻域窗口获取模块,用于获取待处理图像中各个像素点对应的预设尺寸的邻域窗口,其中,上述像素点为上述像素点对应的邻域窗口的中心像素点,上述邻域窗口内除中心像素点以外的像素点为邻域像素点;
高频噪声点判定模块,用于若上述像素点的第一像素值小于上述像素点对应的邻域窗口内所有像素点的第一像素值的平均值,且上述像素点对应的邻域窗口内,第一像素值大于上述平均值的邻域像素点的数量大于第一预设阈值,则判定上述像素点为高频噪声点;
或者,用于若上述像素点的第一像素值大于上述像素点对应的邻域窗口内所有像素点的第一像素值的平均值,且上述像素点对应的邻域窗口内,第一像素值小于上述平均值的邻域像素点的数量大于第二预设阈值,则判定上述像素点为高频噪声点。
第三方面,本申请实施例提供了一种终端设备,包括存储器、处理器以及存储在上述存储器中并可在上述处理器上运行的计算机程序,上述处理器执行上述计算机程序时实现如上述第一方面所述方法的步骤。
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