[发明专利]微波探测装置在审

专利信息
申请号: 202010102072.2 申请日: 2020-02-19
公开(公告)号: CN113281574A 公开(公告)日: 2021-08-20
发明(设计)人: 曾中明;熊家纪;朱可强;张宝顺 申请(专利权)人: 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所
主分类号: G01R29/08 分类号: G01R29/08;H01Q1/50;H01Q1/24
代理公司: 深圳市铭粤知识产权代理有限公司 44304 代理人: 孙伟峰
地址: 215123 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 微波 探测 装置
【权利要求书】:

1.一种微波探测装置,其特征在于,包括:

信号接收模块,用于接收微波信号并将微波信号转化为交流信号;

磁电转化模块,包括磁性隧道结,所述磁性隧道结用于将所述交流信号转换为直流信号。

2.根据权利要求1所述的微波探测装置,其特征在于,所述信号接收模块包括天线以及与所述天线连接的阻抗匹配电路。

3.根据权利要求2所述的微波探测装置,其特征在于,所述磁电转化模块还包括:

磁场生成装置,用于生成不同强度的磁场,以调整磁性隧道结的磁矩方向。

4.根据权利要求2所述的微波探测装置,其特征在于,所述磁性隧道结包括依序层叠设置的固定磁性层、非磁性隔离层和磁性自由层。

5.根据权利要求4所述的微波探测装置,其特征在于,所述磁性隧道结还包括;

第一电极层,设置于所述磁性自由层上且与所述磁性自由层电接触;

第二电极层,设置于所述固定磁性层上且与所述固定磁性层电接触。

6.根据权利要求5所述的微波探测装置,其特征在于,所述磁性隧道结还包括绝缘层,所述绝缘层设置于所述第一电极层和所述磁性自由层之间,所述第一电极层的朝向所述磁性自由层的表面上形成有凸柱,所述绝缘层上具有通孔,所述凸柱穿设于所述通孔且与所述磁性自由层电接触。

7.根据权利要求6所述的微波探测装置,其特征在于,所述凸柱和所述通孔的数量均为多个。

8.根据权利要求1所述的微波探测装置,其特征在于,所述微波探测装置还包括:

升压模块,用于放大所述直流信号;

显示模块,用于显示放大后的直流信号。

9.根据权利要求8所述的微波探测装置,其特征在于,所述显示模块包括单片机和显示屏,所述单片机用于采集放大后的直流信号,并将采集的直流信号通过所述显示屏显示。

10.根据权利要求3所述的微波探测装置,其特征在于,所述微波探测装置还包括:

电流调节模块,用于调节所述磁场生成装置的电流大小,以使得所述磁场生成装置产生不同强度的磁场。

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