[发明专利]适用于光谱法测量呼气痕量成份的方法和系统

说明书

本发明公开了一种适用于光谱法测量呼气痕量成份的方法和系统，方法包括：按照设置的抽真空处理方式对测量气室进行抽真空处理，使测量气室内的压力达到设置的进样前的压力阈值，所述抽真空处理方式包括对所述测量气室直接抽真空处理和对所述测量气室进行一次或多次清洗后再抽真空处理；按照设置的进样次数进行一次进样或者多次进样，本发明通过抽真空进样方式使测量气室原有气体去除到一个可控限值以下，使测量气室残留气体的影响降低到一个可控范围内，从而克服了呼气样本量少而无法完全置换测量气室原有气体的困难，并克服测量气室需要较长时间清洗的缺点。

技术领域

本发明涉及呼气样本量少、所需分析的痕量成分浓度较低且对测量精度、测量时间要求较高的气体分析方法，尤其涉及一种适用于光谱法测量呼气痕量成份的方法和系统。

背景技术

古代就有呼气试验诊断疾病，现代随着检测技术的不断提高，通过检测呼气诊断疾病越来越受人们的重视，现在临床上有多种呼气诊断仪器，例如检测红细胞寿命的红细胞寿命呼气试验仪、检测幽门螺杆菌的HP测试仪等等。测量呼气痕量成份常用的方法有气相色谱法、电化学方法、光谱法等，其中气相色谱法需要的样品量少，测量精度高，但气相色谱仪器操作、维护复杂，价格昂贵，不适合在临床上推广使用；电化学方法测量精度低，稳定性差，且使用寿命短，因此也不适合在临床上广泛使用；光谱法的测量仪器精度高，可靠性高，成本低，结构和装配工艺简单，因此非常适合气体的分析，但是光谱法测量痕量气体，特别是精度要求很高的气体浓度测量需要大量的呼气样本去充满测量气室，而呼气试验的特点就是样本量有限，因此呼气样本量少而无法完全充满测量气室是光谱法测量呼气样本的一大难题。

申请号为201310138453.6的发明专利公开了一种测量气体浓度差的方法及非色散红外光谱仪的进样装置，该发明采用“少量、多次、间歇”的进样方式，克服了要将测量气室内气体完全置换成待测呼气所需样品量大的问题，达到了测量精度高、所需样品量少的有益效果，但是该发明由于采用开放式的气室且采用气缸进气的方式，测量时间较长，不能达到样本的快速测量；使用激光光源在同一气室内测量二个或多个呼气成分时，为了避免吸收峰的叠加，需要对测量气室进行减压处理，但由于该发明的气室是开放式的，不能对气室内部气压进行降压处理，因此限制了激光光源在该发明中的使用。

发明内容

本发明要解决的技术问题在于，针对现有技术的上述不能既适合于激光光源的测量装置又适合于普通光源的测量装置、所需时间较长的缺陷，提供一种既适合于激光光源又适合于普通光源的测量装置，且测量时间能大大缩短的适用于光谱法测量呼气痕量成份的方法和系统。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：构造一种适用于光谱法测量呼气痕量成份的方法，所述方法包括以下步骤：

按照设置的抽真空处理方式对测量气室进行抽真空处理，使测量气室内的压力达到设置的进样前的压力阈值，其中：所述进样前的压力阈值小于大气压力，所述抽真空处理方式包括对所述测量气室直接抽真空处理和对所述测量气室进行一次或多次清洗后再抽真空处理；

按照设置的进样次数进行一次进样或者多次进样，其中：每一次进样均是依靠抽真空形成的测量气室的内外压力差，使连接在测量气室的进气口端的待测样本自动进入测试气室。

优选地，所述的对所述测量气室直接抽真空处理，包括：执行一次抽真空排气步骤；所述的对所述测量气室进行一次或多次清洗后再抽真空处理，包括：反复地执行一次所述抽真空排气步骤后再执行一次清洗步骤，直至所述清洗步骤的执行次数达到设置的清洗次数；再执行一次所述抽真空排气步骤；

其中，所述抽真空排气步骤包括：启动与所述测量气室具有气路连通的气压控制单元，关闭进气电磁阀，打开出气电磁阀，当所述测量气室的压力达到清洗前的压力阈值时关闭所述出气电磁阀，其中，所述清洗前的压力阈值小于或等于大气压力；

其中，所述清洗步骤包括：打开所述进气电磁阀，使连接在测量气室的进气口端的清洗气自动进入所述测量气室，当所述测量气室的压力达到清洗后的压力阈值时，关闭所述进气电磁阀。