[发明专利]光子自旋-轨道角动量联合模式的测量方法及测量系统有效

专利信息
申请号: 202010010958.4 申请日: 2020-01-06
公开(公告)号: CN111130637B 公开(公告)日: 2022-09-02
发明(设计)人: 陈钰杰;王柏铭;闻远辉;余思远 申请(专利权)人: 中山大学
主分类号: H04B10/079 分类号: H04B10/079;H04B10/2581
代理公司: 广州粤高专利商标代理有限公司 44102 代理人: 林丽明
地址: 510275 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 光子 自旋 轨道角动量 联合 模式 测量方法 测量 系统
【权利要求书】:

1.一种光子自旋-轨道角动量联合模式的测量方法,其特征在于:所述的该方法包括以下步骤:

S1:将待测的带有自旋-轨道角动量的光场垂直输入到至(x,y)平面,且光场中心与该平面中心对准;假设光子自旋角动量其中σ=±1,其与光场的偏振态密切相关,σ=1为左旋圆偏振态,σ=-1为右旋圆偏振态;光子轨道角动量其中l=0,±1,±2,±3...与光场的螺旋波前相联系;设输入光场的波前相位可表示为exp(ilθ);其中l为拓扑荷数即轨道角动量模式;θ为方位角;i为虚数单位;

S2:对带有螺旋波前的左旋圆偏振态入射光引入相位调制QL(x,y),对带有螺旋波前的右旋圆偏振入射光引入相位调制QR(x,y);带有不同自旋角动量的光场沿着螺旋线展开并被分离到(u,v)平面上不同位置;

S3:对带有螺旋波前的左旋圆偏振入射光引入补偿相位PL(x,y),对带有螺旋波前的右旋圆偏振入射光引入补偿相位PR(x,y),使得输入光场的波前相位exp(ilθ)变换为横向线性相位其中,β为尺度缩放因子;

S4:将经过(u,v)平面的光场汇聚在(m,n)平面不同位置,该过程满足光学傅里叶变换,自旋和轨道角动量模式对应的空间位置(m,n)可表示为:

式中,Δm表示入射的不同自旋角动量光场在(m,n)平面沿着m轴相反方向的偏移量,λ为输入光场的波长,f为输出凸透镜的焦距;

S5:检测(m,n)平面的光强分布,从而测量输入光场的自旋-轨道角动量联合模式,或解调输入光场的自旋-轨道角动量联合模式。

2.根据权利要求1所述的光子自旋-轨道角动量联合模式的测量方法,其特征在于:在步骤S2之后,步骤S3之前,还需要对不同自旋角动量模式引入相同相位Qnp(x,y),其中Qnp(x,y)满足:

其中,d表示凸透镜的焦距。

3.根据权利要求2所述的光子自旋-轨道角动量联合模式的测量方法,其特征在于:在步骤S2中,所述的QL(x,y),QR(x,y)满足:

式中,k表示入射光场在相位调制之后、补偿相位之前的传播波数;d表示凸透镜的焦距;a、r0均为对数螺旋变换的相关参数,即r0表示映射到(u,v)平面的原点对应(x,y)平面的位置信息,a表示对数螺旋线的变化快慢程度,当a=0时,表示对数螺旋变换退化为对极坐标变换;Δu为入射的不同自旋角动量光场在(u,v)测量平面沿着u轴相反方向的偏移量;r,θ为螺旋极坐标(r,θ)的自变量,可表示为:

其中表示取整数部分,θ的取值范围是(-∞,+∞)。

4.根据权利要求3所述的光子自旋-轨道角动量联合模式的测量方法,其特征在于:在步骤S3中,所述的PL(x,y),PR(x,y)满足:

式中,f表示输出凸透镜的焦距;Δm为入射的不同自旋角动量光场在最终(m,n)测量平面沿着m轴相反方向的偏移量。

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