[发明专利]一种测试数据处理装置和方法

说明书

本发明涉及数据处理领域，特别涉及一种测试数据处理装置和方法。其中，测试数据处理装置包括动态链接库模块和接口模块；动态链接库模块接收测试数据，并根据测试数据的路数分别开启相应数量的子线程进行处理，并将处理后的数据发送给接口模块；接口模块将接收的数据处理成J750平台能直接识别的形式；接口模块向J750平台导入相关测试文件、创建测试实例并进行接口自检；测试时，J750测试实例向模拟板卡或数字板卡发送采集指令，模拟板卡或数字板卡向数据处理装置发送测试数据，数据处理装置对测试数据进行处理，并将测试结果发送给J750测试实例。本发明的测试数据处理装置可以在线修改调试参数并运行，提高了调试效率。

技术领域

本发明涉及数据处理领域，特别涉及一种测试数据处理装置和方法。

背景技术

泰瑞达的J750平台是对各种各样的微控制器、FPGA(Field Programmable GateArray)和数字音频/基带设备进行经济高效测试的行业标准。该系统的安装基数超过6000个，可在50多个OSAT(On-Site Acceptance Tests)位置广泛使用，并且有一整台用于晶圆分类和最终测试的生产接口解决方案。

在J750编写测试程序时，测试工程师可以使用系统自带的模板或者VB代码进行设计。随着集成电路的高速发展，芯片测试也越来越复杂，J750机台自带的模板的使用范围越来越受限，多种ADC(Analog-to-Digital Converter)/DAC(Digital-to-AnalogConverter)需要测试工程师在模板基础上进行二次开发才能满足芯片测试要求。

J750机台使用的VB(Visual Basic)语言，其数据及文件处理能力相对于其他语言而言效率很低，在大数据量运算处理时体现出的差距非常明显。在J750上，实测在数据计算较多的ADC/DAC测试中，使用VB的测试时间是使用C++的计算时间5倍以上。想要在J750平台上提高数据处理效率，一是开发高效的VB数据运算处理代码，二是采用动态链接库方法，使用数据处理效率较高的其他语言进行数据处理算法的构建。对于多路数据的处理，由于VB对多线程支持不好，J750只能逐个处理，效率低，若使用多线程处理，可以充分利用集成电路测试系统多核心的优势，加快数据处理速度。

动态链接库文件，是一种可执行文件，它允许程序共享执行特殊任务所必须的代码和其他资源。动态链接库可以由多种语言创建，如C、C++、VB、Java、Matlab、Python等，同时也可以在这些语言的开发平台中运行。由于动态链接库可以跨平台调用，因此只支持所有平台共有的调用特性，使用起来较为繁琐。

发明内容

有鉴于此，本发明的主要目的是加快数据处理速度、提高测试效率。

为达到上述目的，本发明提供了一种测试数据处理装置和方法。

一种测试数据处理装置，包括动态链接库模块和接口模块；动态链接库模块接收测试数据，并根据测试数据的路数分别开启相应数量的子线程进行处理，并将处理后的数据发送给接口模块；接口模块将接收的数据处理成J750平台能直接识别的形式；接口模块向J750平台导入相关测试文件、创建测试实例并进行接口自检；测试时，J750测试实例向模拟板卡或数字板卡发送采集指令，模拟板卡或数字板卡向数据处理装置发送测试数据，数据处理装置对测试数据进行处理，并将测试结果发送给J750测试实例。

其中，接口模块包括VB调用接口模块和类模块；VB调用接口模块将动态链接库模块的接口“翻译”为J750平台可以直接识别的接口形式；类模块重新整合各个接口，形成方便数据处理的各个成员，并作为一个统一的对象供J750平台的测试实例使用。

动态链接库模块采用C++语言编程实现，且动态链接库模块中的子线程异步运行。

一种利用测试数据处理装置进行测试数据处理的方法，步骤如下：

第S1步，向J750平台导入相关测试文件、创建测试实例；