[发明专利]使用光散射偏振测定来表征玻璃基样品的光学阻滞

权利要求书

1.一种使用光散射偏振测定来表征玻璃基样品的光学阻滞的方法，包括：

a.将光束从光源引导到所述玻璃基样品中，同时在至少第一偏振状态与第二偏振状态之间改变所述光束的偏振，以生成针对每个偏振状态的散射光；

b.针对所述至少第一偏振状态和第二偏振状态中的每一者，使用具有曝光时间t_E并且以帧率FR捕获帧的图像传感器来捕获所述散射光，其中所述散射光具有在所述图像传感器处的强度分布；

c.相对于所述光束和所述图像传感器中的至少一者以样品速度SS移动所述样品，使得对于所述至少第一偏振状态和第二偏振状态中的每一者，所述图像传感器对每帧的所述强度分布中的两个或更多个强度分布求平均以形成平均强度分布；以及

d.使用针对至少第一偏振状态和第二偏振状态中的每一者的所述平均强度分布来表征所述光学阻滞。

2.如权利要求1所述的方法，进一步包括：使用动作d)的所表征的光学阻滞来确定所述玻璃基样品的至少一个应力相关特性。

3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述至少一个应力相关特性选自包括以下各项的应力相关特性的群组：应力分布、表面应力、压缩深度、中心张力、以及双折射分布。

4.如权利要求1至3中任一项所述的方法，其特征在于，所述玻璃基样品完全由玻璃材料或玻璃陶瓷材料组成。

5.如权利要求1至4中任一项所述的方法，其特征在于，相对于所述光束和所述图像传感器中的至少一者以所述样品速度SS移动所述玻璃基样品的所述动作c)包括：在保持所述光束和所述图像传感器静止的同时移动所述玻璃基样品。

6.如权利要求1至5中任一项所述的方法，其特征在于，所述动作c)包括：以至少0.4毫米每秒的所述样品速度SS移动所述玻璃基样品。

7.如权利要求1至6中任一项所述的方法，其特征在于，所述动作c)包括：以所述样品速度SS≥K·λ/t_E移动所述玻璃基样品，其中λ是所述光束的波长并且K在0.4至1的范围内。

8.如权利要求1至7中任一项所述的方法，其特征在于，所述光束驻留在入射平面中，并且进一步包括：在垂直于所述入射平面的方向上移动所述玻璃基样品。

9.如权利要求1至8中任一项所述的方法，其特征在于，所述玻璃基样品具有侧面，并且其中移动所述玻璃基样品的所述动作c)包括：从所述侧面推动所述玻璃基样品。

10.如权利要求1至9中任一项所述的方法，其特征在于，所述玻璃基样品具有侧面，所述侧面具有侧面部分，并且其中移动所述玻璃基样品的所述动作c)包括：

用接合固定装置可操作地接合所述侧面和所述侧面部分中的至少一者；以及

移动所述接合固定装置。

11.如权利要求1至10中任一项所述的方法，其特征在于，移动所述样品的所述动作包括平移、旋转或其组合。

12.如权利要求1至11中任一项所述的方法，其特征在于，移动所述玻璃基样品的所述动作c)包括：

可操作地在框架中支撑所述玻璃基样品；

用接合固定装置可操作地接合所述框架；以及

移动所述接合固定装置。

13.如权利要求1至4中任一项所述的方法，其特征在于，移动所述玻璃基样品的所述动作c)包括：在保持所述玻璃基样品静止的同时移动所述激光源和所述图像传感器中的一者或两者。