[发明专利]用于电化学测试条带中的电子门特征的系统和方法在审

专利信息
申请号: 201980079493.3 申请日: 2019-12-02
公开(公告)号: CN113167760A 公开(公告)日: 2021-07-23
发明(设计)人: J·P·乔伊斯;M·穆绍 申请(专利权)人: 聚合物技术系统公司
主分类号: G01N27/327 分类号: G01N27/327
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 蔡洪贵
地址: 美国印*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 用于 电化学 测试 条带 中的 电子 特征 系统 方法
【权利要求书】:

1.一种用于测试分析物的系统,所述系统包括:

测试条带,包括:

第一流动路径;

所述第一流动路径中的与时间相关的区域;

电子门,所述电子门处于所述第一流动路径中,所述电子门将所述与时间相关的区域与所述第一流动路径的检测区域分隔开。

2.如权利要求1所述的系统,其中,所述与时间相关的区域是反应保持区域。

3.如权利要求2所述的系统,其中,所述反应保持区域包括用于引起反应的试剂。

4.如权利要求1所述的系统,其中,所述与时间相关的区域是加热区域并且包括加热元件,所述加热元件与所述第一流动路径的所述加热区域连通,用于加热所述第一流动路径中的样品。

5.如权利要求1所述的系统,其中,所述与时间相关的区域是温度变化区域并且包括温度变化元件,所述温度变化元件与所述第一流动路径的所述温度变化区域连通,用于改变所述第一流动路径中的样品的温度。

6.如权利要求1所述的系统,其中,所述分析物是Hb AlC。

7.如权利要求1所述的系统,其中,所述电子门是疏水性玻璃珠电介质。

8.如权利要求1所述的系统,其中,所述电子门是烧蚀槽,所述烧蚀槽被在制成所述测试条带的聚合物膜的基底的主体中切出。

9.如权利要求1所述的系统,其中,所述电子门是自组装单层膜(SAM)。

10.如权利要求7所述的系统,其中,电流打开所述电子门。

11.如权利要求1所述的系统,其中,所述检测区域包括用于检测AlC的叉指型电极。

12.如权利要求11所述的系统,其中,所述测试条带还包括第二流动路径,所述第二流动路径包括用于检测血红蛋白的叉指型电极。

13.如权利要求1所述的系统,其中,所述系统还包括仪表,所述仪表接合所述测试条带,所述仪表被配置为利用电流打开所述电子门。

14.如权利要求13所述的系统,其中,所述仪表被配置为在所述样品已经达到所需温度时打开所述电子门。

15.如权利要求13所述的系统,其中,所述仪表被配置为在所述样品已经达到所需温度时打开所述电子门。

16.如权利要求13所述的系统,其中,所述仪表被配置为在所述样品已经经历了所需煮解之后打开所述电子门。

17.如权利要求13所述的系统,其中,所述仪表被配置为在预设时间段之后打开所述电子门。

18.一种用于测试分析物的系统,所述系统包括:

测试条带,包括:

第一流动路径;

所述第一流动路径中的与时间相关的区域;

电子门,所述电子门处于所述第一流动路径中,所述电子门将所述与时间相关的区域与所述第一流动路径的检测区域分隔开;其中,所述电子门选自由疏水性玻璃珠电介质和自组装单层膜(SAM)构成的组。

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