[发明专利]电磁波检测装置以及信息获取系统在审
| 申请号: | 201980046352.1 | 申请日: | 2019-07-17 |
| 公开(公告)号: | CN112384769A | 公开(公告)日: | 2021-02-19 |
| 发明(设计)人: | 竹内绘梨 | 申请(专利权)人: | 京瓷株式会社 |
| 主分类号: | G01J1/04 | 分类号: | G01J1/04;G01C3/06;G01J5/48;G01V3/12;G01V8/18 |
| 代理公司: | 隆天知识产权代理有限公司 72003 | 代理人: | 向勇;宋晓宝 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 电磁波 检测 装置 以及 信息 获取 系统 | ||
1.一种电磁波检测装置,其中,
具有:
成像部,对入射的电磁波进行成像;
棱镜,包括将从所述成像部入射的电磁波射出的第一射出面;
行进部,沿着基准面配置有多个像素,使从所述第一射出面入射至所述基准面的电磁波按每个所述像素向特定的方向行进;以及
第一检测部,检测向所述特定的方向行进的电磁波,
所述棱镜在从所述成像部入射且所述第一检测部应该检测的电磁波的行进路径以外的位置设置有反射抑制部,所述反射抑制部抑制由所述棱镜的端面反射而引起的不需要的光向所述第一检测部入射。
2.如权利要求1所述的电磁波检测装置,其中,
所述反射抑制部设置于所述位置处的所述棱镜与和所述棱镜相接的其他介质的界面。
3.如权利要求2所述的电磁波检测装置,其中,
从所述行进路径到所述界面的距离为规定的距离以上。
4.如权利要求1所述的电磁波检测装置,其中,
所述反射抑制部包括所述棱镜中的距所述行进路径的距离为规定的距离以上的区域。
5.如权利要求1至4中任一项所述的电磁波检测装置,其中,
向所述特定的方向行进的电磁波再次入射至所述第一射出面,
所述棱镜包括第二射出面,所述第二射出面将从所述第一射出面再次入射且向第一行进方向行进的电磁波射出,
所述第一检测部检测从所述第二射出面射出的电磁波。
6.如权利要求1至5中任一项所述的电磁波检测装置,其中,
所述棱镜使从所述成像部入射的电磁波分离而向第二行进方向以及第三行进方向行进,使向所述第二行进方向行进的电磁波从所述第一射出面向所述基准面射出。
7.如权利要求6所述的电磁波检测装置,其中,
所述棱镜使特定的波段的电磁波反射而向所述第三行进方向行进,使所述特定的波段以外的电磁波向所述第二行进方向行进。
8.如权利要求7所述的电磁波检测装置,其中,
所述电磁波检测装置还具有第二检测部,
所述棱镜具有第三射出面,所述第三射出面检测向所述第三行进方向行进的电磁波,
所述第二检测部检测从所述第三射出面射出的电磁波,
所述反射抑制部设置于所述第一检测部以及所述第二检测部应该检测的电磁波的行进路径以外的位置。
9.如权利要求8所述的电磁波检测装置,其中,
所述第二检测部包括与所述第一检测部相同种类或者不同种类的传感器。
10.如权利要求8或者9所述的电磁波检测装置,其中,
所述第二检测部检测与所述第一检测部检测的电磁波相同种类或者不同种类的电磁波。
11.如权利要求1至10中任一项所述的电磁波检测装置,其中,
所述行进部针对每个所述像素在使入射至所述基准面的电磁波向所述特定的方向反射的第一反射状态和向与所述特定的方向不同的方向反射的第二反射状态之间进行切换。
12.如权利要求11所述的电磁波检测装置,其中,
所述行进部按每个所述像素而包含反射电磁波的反射面,通过针对每个所述像素变更所述反射面的朝向,对所述第一反射状态和所述第二反射状态进行切换。
13.如权利要求1至12中任一项所述的电磁波检测装置,其中,
所述行进部包括数字微镜器件。
14.如权利要求1至10中任一项所述的电磁波检测装置,其中,
所述行进部在使入射至所述基准面的电磁波透过的透过状态和使所述电磁波反射的反射状态之间进行切换。
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