[发明专利]天线阵列内的无源互调源的位置在审
| 申请号: | 201980044252.5 | 申请日: | 2019-07-01 |
| 公开(公告)号: | CN112368887A | 公开(公告)日: | 2021-02-12 |
| 发明(设计)人: | 西蒙·盖尔;大卫·达米安·尼古拉斯·贝文 | 申请(专利权)人: | 阿斯阿科斯有限公司 |
| 主分类号: | H01Q3/26 | 分类号: | H01Q3/26;H01Q3/30;H01Q21/00;H04B17/19;H04B17/00;H04B17/17 |
| 代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 刘彬 |
| 地址: | 英国艾*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 天线 阵列 无源 互调源 位置 | ||
1.一种识别天线阵列组件内的至少一个PIM(无源互调)源的位置的方法,所述天线阵列组件包括多个子阵列、连接端口以及可控多元件移相器,所述可控多元件移相器被配置为将相应的相移施加到所述连接端口与每个子阵列之间的相应路径,所述方法包括:
将激励波形施加到所述连接端口;
将多元件移相器设置为第一状态以将所述相应的相移施加到所述相应路径中的每一个相应路径;
响应于所述激励波形,至少对从所述连接端口发出的PIM产物的相位进行第一测量;
将所述多元件移相器设置为一系列其他状态,施加到所述相应路径中的每一个相应路径的所述相应的相移取决于状态,并且针对所述其他状态中的每一个其他状态至少对从所述连接端口发出的所述PIM产物的所述相位进行进一步测量;
根据所述第一测量和所述进一步测量确定至少所述PIM产物的所述相位对所述多元件移相器的所述状态的依赖性;
将所确定的至少所述PIM产物的所述相位对所述多元件移相器的所述状态的依赖性与至少所述PIM产物的所述相位对所述多元件移相器的所述状态的多个预定依赖性进行比较,每个预定依赖性用于位于所述多元件移相器与包括相应子阵列的所述相应子阵列之间的相应路径中的PIM源;并且
根据所述比较确定所述至少一个PIM源在所述天线阵列组件内的所述位置。
2.根据权利要求1所述的方法,其中,所述第一测量和所述进一步测量是所述PIM产物的振幅和相位的测量,并且所述方法包括根据所述第一测量和所述进一步测量确定所述PIM产物的所述振幅和所述相位对所述多元件移相器的所述状态的依赖性,并且所述比较包括:
将所确定的所述PIM产物的所述振幅和所述相位对所述多元件移相器的所述状态的依赖性与所述PIM产物的所述振幅和所述相位对所述多元件移相器的所述状态的多个预定依赖性进行比较,每个预定依赖性用于位于所述多元件移相器与包括相应子阵列的所述相应子阵列之间的相应路径中的PIM源。
3.根据权利要求1或权利要求2所述的方法,其中,所述比较包括互相关。
4.根据权利要求1或权利要求2所述的方法,其中,所述比较包括线性最小二乘过程。
5.根据权利要求4所述的方法,包括通过解Ax=b来识别一个或多个PIM源的所述位置,
其中:
针对不同路径中的PIM源,A是所述PIM产物的所述振幅和所述相位对所述多元件移相器的所述状态的多个预定依赖性的矩阵;
b是表示所确定的所述PIM产物的测量的振幅和相位对所述多元件移相器的所述状态的依赖性的列向量;以及
x是指示PIM位于每个路径中的概率的向量。
6.根据任一前述权利要求所述的方法,其中,所述可控多元件移相器是用于施加远程电倾斜(RET)的装置。
7.根据任一前述权利要求所述的方法,其中,所述可控多元件移相器包括多个功率分配器和多个可控移相元件。
8.根据任一前述权利要求所述的方法,其中,每个子阵列包括用于辐射和/或接收的一个或多个天线元件。
9.根据任一前述权利要求所述的方法,其中,所述激励波形包括第一信号和第二信号,其中,至少所述第一信号是连续波(CW)信号。
10.根据权利要求9所述的方法,其中,所述第二信号是连续波(CW)信号。
11.根据权利要求9所述的方法,其中,所述第二信号是调制信号。
12.根据权利要求11所述的方法,其中,所述第二信号利用带宽在10MHz至40MHz范围内的类噪声波形来调制。
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