[发明专利]用于检查由透明材料所制成的物件的方法及对应的检查系统有效
| 申请号: | 201980031028.2 | 申请日: | 2019-05-08 |
| 公开(公告)号: | CN112119281B | 公开(公告)日: | 2023-02-28 |
| 发明(设计)人: | M·达拉·卡萨;M·蒙特奇 | 申请(专利权)人: | 马波斯S.P.A.公司 |
| 主分类号: | G01B11/06 | 分类号: | G01B11/06;G01B11/25;G01N21/90 |
| 代理公司: | 北京润平知识产权代理有限公司 11283 | 代理人: | 肖冰滨;王晓晓 |
| 地址: | 意大利*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 用于 检查 透明 材料 制成 物件 方法 对应 系统 | ||
1.一种用于藉由检查系统(1)检查由透明材料制成的物件(2)的方法,所述物件限定至少第一表面和第二表面,所述至少第一表面和第二表面限定厚度,所述检查系统包含光源(4)、限定光轴的传感器(6)和连接到所述传感器的处理单元,所述方法包含以下步骤,不一定按顺序进行:
-藉由所述光源(4)发射限定大体上垂直于所述第一表面的照明平面的光翼,
-以所述光轴与所述照明平面形成指定角度的方式定位所述传感器(6)面对所述第一表面,
-在由所述至少第一表面和第二表面散射的多个光线之间,检测在所述传感器(6)的所述光轴接收到的散射光线,
-基于检测到的散射光线来产生对应于所述至少第一表面和第二表面的轮廓的多个光迹线,以及
-将所述至少第一表面和第二表面中的一个的所述轮廓与相对于所述多个光迹线的其他迹线位于预定位置的迹线相关联。
2.根据权利要求1所述的方法,其中所述物件的所述第一表面的所述轮廓与相对于所述多个光迹线的其他迹线位于端部位置的第一迹线相关联。
3.根据权利要求2所述的方法,其中所述物件的所述第二表面的所述轮廓与邻近于所述第一迹线的第二迹线相关联。
4.根据权利要求3所述的方法,还包括计算所述物件的所述厚度作为所述第一迹线和所述第二迹线之间的距离之函数的步骤。
5.根据权利要求1至4中任一项所述的方法,其中所述传感器(6)的所述光轴与所述照明平面之间的角度在45°至85°之间。
6.根据权利要求1至4中任一项所述的方法,其中所述物件(2)的所述第一表面和所述第二表面中的至少一个是弯曲表面。
7.根据权利要求1至4中任一项所述的方法,其中待检查的所述物件是容器(2),所述第一表面和所述第二表面分别对应于所述容器(2)的外表面和内表面。
8.根据权利要求7所述的方法,其中所述第一表面被包括在所述容器(2)有黏贴卷标的区域中。
9.一种检查系统(1),用于检查由透明材料制成的物件(2),所述物件限定至少第一表面和第二表面,所述至少第一表面和第二表面限定厚度,所述检查系统包含:
-光源(4),
-限定光轴的传感器(6),以及
-连接到所述传感器(6)的处理单元,
其特征在于
-所述光源(4)发射光翼,所述光翼限定大体上垂直于所述第一表面的照明平面;以及
-所述传感器(6)以所述光轴与所述照明平面形成限定角度的方式面对所述第一表面定位,所述传感器(6)并在所述光轴接收并检测由所述至少第一表面和第二表面散射的光线且发送电讯号,
所述处理单元适于基于检测到的散射光线来产生对应于所述至少第一表面和第二表面的轮廓的多个光迹线的影像,并使所述至少第一表面和第二表面中的一个的所述轮廓与相对于所述多个光迹线的其他迹线位于预定位置中的迹线相关联。
10.根据权利要求9所述的检查系统,其中所述光源(4)发射雷射光。
11.根据权利要求9所述的检查系统,其中由所述光源(4)发出的光是结构化的光。
12.根据权利要求9至11中任一项所述的检查系统,其中所述光源(4)发出的光可以被调变。
13.根据权利要求9至11中任一项所述的检查系统,其中所述传感器(6)的所述光轴与所述照明平面之间的角度在45°至85°之间。
14.根据权利要求9至11中任一项所述的检查系统,其中所述处理单元适于将所述物件的所述第一表面的所述轮廓与相对于所述多个光迹线的其他迹线位于端部位置的第一迹线相关联。
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