[发明专利]用于测试LED阵列砖的设备

权利要求书

1.一种用于测试LED阵列砖(20)的设备(10)，所述设备(10)包括：

用于容纳LED阵列砖(20)的测试平台(100)，所述测试平台(100)设置有安装在其上的至少两个相对放置的固定装置(110)，其中，所述至少两个固定装置(110)被配置为保持所述LED阵列砖(20)；

至少一个测试臂(200)，与X轴电机(30)相关联且可滑动地安装在导轨(300)上，以在一排待测LED之间移动；

与待测LED接触的至少两个探针(210)，形成于所述至少一个测试臂(200)的下端(200a)上；

Z轴电机(50)，对应于所述至少两个探针(210)中的每一个，并且适于驱动所述探针(210)处于停止位置或测试位置；

与Y轴电机(40)相关联的一对间隔开的滑块(400)，所述导轨(300)在所述滑块上沿与所述至少一个测试臂(200)的滑动方向垂直的方向可滑动地移动，以将所述至少一个测试臂(200)移动到另一排待测LED；以及

控制器，连接至并控制所述电机(30，40，50)，所述电机驱动所述至少一个测试臂(200)的滑动、所述导轨(300)的滑动以及所述探针(210)在垂直于所述测试臂(200)和所述导轨(300)滑动的平面的方向上的移动；

其中，所述探针(210)可彼此独立地可控地移动，并且所述至少两个探针(210)中的每一个能够同时或顺序地进行测试，以使测试时间最小化并实现更高的测试处理量。

2.根据权利要求1所述的用于测试LED阵列砖(20)的设备(10)，其中，所述至少两个探针(210)中的每一个均连接至独立的电气仪器，所述电器仪器适于控制所述探针(210)的测试能力。

3.根据权利要求2所述的用于测试LED阵列砖(20)的设备(10)，其中，所述电气仪器优选地是源测量单元(SMU)。

4.根据权利要求1所述的用于测试LED阵列砖(20)的设备(10)，其中，所述设备(10)设置有至少一个热调节单元(500)，所述热调节单元适于与所述至少一个测试臂(200)连接并接合，其中，所述至少一个热调节单元(500)具有顶表面(500a)、端壁(500b)、侧壁(500c)和底表面(500d)。

5.根据权利要求4所述的用于测试LED阵列砖(20)的设备(10)，其中，所述至少一个热调节单元(500)被配置为升高或降低所述LED阵列砖(20)的温度。

6.根据权利要求4所述的用于测试LED阵列砖(20)的设备(10)，其中，所述至少一个热调节单元(500)设置有具有上表面(510a)和下表面(510b)的面板(510)，其中，所述面板(510)连接到所述至少一个热调节单元(500)的侧壁(500c)之一，并且在所述至少一个热调节单元(500)和所述面板(510)之间形成空间间隙(530)，以允许所述至少一个测试臂(200)上的至少两个探针(210)通过，以对所述LED阵列砖(20)进行测试。

7.根据权利要求6所述的用于测试LED阵列砖(20)的设备(10)，其中，所述热调节单元(500)的面板(510)设置有多个真空孔(511)，所述多个真空孔优选地位于所述面板(510)的下表面(510b)。

8.根据权利要求7所述的用于测试LED阵列砖(20)的设备(10)，其中，所述面板(510)的真空孔(511)被配置为产生真空吸力，以抵消由所述至少两个探针(210)施加在所述LED阵列砖(20)上的力。

9.根据权利要求1所述的用于测试LED阵列砖(20)的设备(10)，其中，所述设备(10)还设置有至少一个喷嘴(600)，其中，所述至少一个喷嘴(600)优选地位于靠近所述测试平台(100)上的LED阵列砖(20)。