[实用新型]一种石墨烯纳米孔测序仪有效

专利信息
申请号: 201922379547.8 申请日: 2019-12-25
公开(公告)号: CN211814460U 公开(公告)日: 2020-10-30
发明(设计)人: 袁志山;刘佑明;王成勇 申请(专利权)人: 广东工业大学
主分类号: C12M1/34 分类号: C12M1/34;C12Q1/6869
代理公司: 广州粤高专利商标代理有限公司 44102 代理人: 林丽明
地址: 510060 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 石墨 纳米 孔测序仪
【权利要求书】:

1.一种石墨烯纳米孔测序仪,其特征在于,包括探针纳米运动平台、AFM探针、纳米孔芯片、疏水液池以及三维纳米运动平台;所述AFM探针装夹在所述探针纳米运动平台上,所述疏水液池固定在所述三维纳米运动平台上,所述纳米孔芯片安装在所述疏水液池内;所述AFM探针的针尖设置有DNA四面体;所述纳米孔芯片上刻蚀有固态纳米孔且所述疏水液池内部的溶液通过所述纳米孔连通,所述纳米孔下方的溶液内设置有若干颗磁珠。

2.根据权利要求1所述的石墨烯纳米孔测序仪,其特征在于,所述探针纳米运动平台的纵向闭环行程大于25μm,其闭环分辨率小于0.3nm;所述三维纳米运动平台的三维方向闭环行程X/Y/Z均大于10μm,其闭环分辨率小于5nm。

3.根据权利要求2所述的石墨烯纳米孔测序仪,其特征在于,所述AFM探针包括基体、金修饰层、金表面以及隔离层;所述金修饰层通过薄膜沉积技术包覆在所述基体的外侧表面,所述隔离层通过薄膜沉积技术包覆在所述金修饰层的外侧表面,所述金表面通过微纳加工制造技术刻蚀在所述AFM探针的尖端处并刻穿所述隔离层,所述金表面与所述DNA四面体相连。

4.根据权利要求3所述的石墨烯纳米孔测序仪,其特征在于,所述DNA四面体的棱长为10bp~50bp,即3.4nm~17nm。

5.根据权利要求4所述的石墨烯纳米孔测序仪,其特征在于,所述金修饰层的厚度为30~100nm;所述隔离层的厚度为10~50nm;所述金表面的直径大于所述DNA四面体的棱长。

6.根据权利要求5所述的石墨烯纳米孔测序仪,其特征在于,所述纳米孔芯片的材料为石墨烯或氮化硼或二硫化钼,所述纳米孔的直径小于5nm。

7.根据权利要求6所述的石墨烯纳米孔测序仪,其特征在于,所述疏水液池的材料为特氟龙。

8.根据权利要求7所述的石墨烯纳米孔测序仪,其特征在于,所述磁珠为链霉素亲和磁珠。

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