[实用新型]一种红外锗单晶生长用直径测量装置有效
| 申请号: | 201922376038.X | 申请日: | 2019-12-26 |
| 公开(公告)号: | CN211576049U | 公开(公告)日: | 2020-09-25 |
| 发明(设计)人: | 李刚;雷同光;李燕 | 申请(专利权)人: | 有研光电新材料有限责任公司 |
| 主分类号: | G01B5/08 | 分类号: | G01B5/08 |
| 代理公司: | 北京辰权知识产权代理有限公司 11619 | 代理人: | 董李欣 |
| 地址: | 065001 河*** | 国省代码: | 河北;13 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 红外 锗单晶 生长 直径 测量 装置 | ||
1.一种红外锗单晶生长用直径测量装置,其特征在于,所述直径测量装置包括竖直台和游标卡尺组件;
所述游标卡尺组件包括主尺和游标,所述游标设置于主尺上,且与主尺滑动连接;
所述游标设有镜头;所述镜头的光轴与所述主尺垂直,所述镜头的镜面设有单晶边缘对准标识;
所述竖直台与所述主尺固定连接,且互成90°夹角。
2.如权利要求1所述的直径测量装置,其特征在于,所述游标还设有定位件,用于将所述游标固定于主尺上。
3.如权利要求2所述的直径测量装置,其特征在于,所述定位件为紧固调节螺钉。
4.如权利要求1所述的直径测量装置,其特征在于,所述主尺的长度为250-300mm,宽度为20-40mm,高度为20-40mm。
5.如权利要求1所述的直径测量装置,其特征在于,所述主尺的测量范围为0-170mm。
6.如权利要求1所述的直径测量装置,其特征在于,所述镜头的直径为25-30mm。
7.如权利要求6所述的直径测量装置,其特征在于,所述镜头上的单晶边缘对准标识为一段竖直或水平的线段。
8.如权利要求1所述的直径测量装置,其特征在于,所述镜头与所述主尺之间的距离为8-15mm。
9.如权利要求1所述的直径测量装置,其特征在于,所述竖直台的高度为120-150mm,长度为20-40mm,宽度为20-40mm。
10.如权利要求1-9任一项所述的直径测量装置,其特征在于,所述竖直台和主尺的材质为碳钢、不锈钢或铸铁。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于有研光电新材料有限责任公司,未经有研光电新材料有限责任公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201922376038.X/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种管道式实验室
- 下一篇:一种淤泥预处理加药装置





