[实用新型]一种红外锗单晶生长用直径测量装置有效

专利信息
申请号: 201922376038.X 申请日: 2019-12-26
公开(公告)号: CN211576049U 公开(公告)日: 2020-09-25
发明(设计)人: 李刚;雷同光;李燕 申请(专利权)人: 有研光电新材料有限责任公司
主分类号: G01B5/08 分类号: G01B5/08
代理公司: 北京辰权知识产权代理有限公司 11619 代理人: 董李欣
地址: 065001 河*** 国省代码: 河北;13
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摘要:
搜索关键词: 一种 红外 锗单晶 生长 直径 测量 装置
【权利要求书】:

1.一种红外锗单晶生长用直径测量装置,其特征在于,所述直径测量装置包括竖直台和游标卡尺组件;

所述游标卡尺组件包括主尺和游标,所述游标设置于主尺上,且与主尺滑动连接;

所述游标设有镜头;所述镜头的光轴与所述主尺垂直,所述镜头的镜面设有单晶边缘对准标识;

所述竖直台与所述主尺固定连接,且互成90°夹角。

2.如权利要求1所述的直径测量装置,其特征在于,所述游标还设有定位件,用于将所述游标固定于主尺上。

3.如权利要求2所述的直径测量装置,其特征在于,所述定位件为紧固调节螺钉。

4.如权利要求1所述的直径测量装置,其特征在于,所述主尺的长度为250-300mm,宽度为20-40mm,高度为20-40mm。

5.如权利要求1所述的直径测量装置,其特征在于,所述主尺的测量范围为0-170mm。

6.如权利要求1所述的直径测量装置,其特征在于,所述镜头的直径为25-30mm。

7.如权利要求6所述的直径测量装置,其特征在于,所述镜头上的单晶边缘对准标识为一段竖直或水平的线段。

8.如权利要求1所述的直径测量装置,其特征在于,所述镜头与所述主尺之间的距离为8-15mm。

9.如权利要求1所述的直径测量装置,其特征在于,所述竖直台的高度为120-150mm,长度为20-40mm,宽度为20-40mm。

10.如权利要求1-9任一项所述的直径测量装置,其特征在于,所述竖直台和主尺的材质为碳钢、不锈钢或铸铁。

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