[实用新型]一种用于片式电解电容的测试装置有效

专利信息
申请号: 201922329090.X 申请日: 2019-12-23
公开(公告)号: CN211318635U 公开(公告)日: 2020-08-21
发明(设计)人: 杨晔 申请(专利权)人: 江苏伊施德创新科技有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01R1/073;G01R1/04
代理公司: 南京北辰联和知识产权代理有限公司 32350 代理人: 王俊
地址: 214000 江苏省无锡市*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 电解电容 测试 装置
【权利要求书】:

1.一种用于片式电解电容的测试装置,所述片式电解电容为多个电容单元组成的条带状电容,每个电容单元具有两个电极,其特征在于,包括:

电容运动轨道,其设有多对与所述两个电极位置对应的探针孔;

上探针,其位于所述探针孔的上方,由第一移动装置控制上下运动;

下探针,其位于所述探针孔内,由第二移动装置控制上下运动;

所述上探针和所述下探针均由多段不同直径的针体组成,所述针体至少包括针头、针芯和针尾,所述针头的第一直径大于所述针芯的第二直径;所述上探针和所述下探针的针头均朝向所述探针孔的上表面;

在无电容的空压情况下,所述上探针的针头低于或等于所述探针孔的上表面,所述下探针的针头高于所述探针孔的上表面,所述上探针和所述下探针相接触并互相施力;在有电容的测试情况下,所述上探针向电极的上表面施加下压的力,所述下探针向电极的下表面施加上顶的力。

2.根据权利要求1所述的测试装置,其特征在于,在无电容的空压情况下,所述下探针的针头高于所述探针孔的上表面0.1~0.2mm。

3.根据权利要求1所述的测试装置,其特征在于,所述上探针的第一直径为0.8~1mm。

4.根据权利要求1所述的测试装置,其特征在于,所述针芯的第二直径小于所述针尾的第三直径。

5.根据权利要求1所述的测试装置,其特征在于,上探针所用材料的弹性模量小于下探针所用材料的弹性模量。

6.根据权利要求5所述的测试装置,其特征在于,所述下探针为磷铜镀金,其第一直径为0.8mm。

7.根据权利要求1所述的测试装置,其特征在于,所述电容运动轨道包括:容纳电容主体的第一轨道、位于所述第一轨道的两侧的第二轨道和第三轨道,所述第二轨道和所述第三轨道的表面分别放置一个电容单元的两个电极,所述第二轨道和所述第三轨道具有位置分别对应的探针孔;所述第一轨道表面设置有传送带,传送带的传送方向平行于探针阵列的方向;所述第一轨道的表面低于所述第二轨道和所述第三轨道的表面。

8.根据权利要求1所述的测试装置,其特征在于,所述电容运动轨道为一个传送平面,所述传送平面的传送方向垂直于探针阵列的方向。

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