[实用新型]一种基于核心板老化测试系统

权利要求书

1.一种基于核心板老化测试系统，其特征在于，包括若干路电源控制电路、若干路电流检测电路、若干路系统监测电路和MCU；

每一路电源控制电路包括依次相连的工作电源、继电器LS及其控制电路、采样电阻R1和一个核心板，所述继电器LS用于控制核心板与工作电源的接通或断开；

每一路电流检测电路连接一路电源控制电路，用于测量采样电阻R1的电流值，并将该电流值反馈至MCU，MCU通过IO口控制继电器LS的状态；

每一路系统监测电路通过串口监测一个核心板的系统运行状况。

2.根据权利要求1所述的基于核心板老化测试系统，其特征在于：还包括若干路电压转换电路，

每一路电压转换电路连接一路电源控制电路，用于将连接外部的输入电源转换为工作电源。

3.根据权利要求2所述的基于核心板老化测试系统，其特征在于：所述输入电源的电压为12V，所述工作电源的电压为5V或3.3V。

4.根据权利要求1所述的基于核心板老化测试系统，其特征在于：所述继电器LS的控制电路包括PNP型三极管Q1、NPN型三级管Q2、上拉电阻R11、下拉电阻R12、限流电阻R13和限流电阻R14，其中，

所述上拉电阻R11一端接入继电器LS工作电压后连接PNP型三极管Q1的发射极，所述上拉电阻R11另一端连接PNP型三极管Q1的基极，用于给PNP型三极管Q1提供基极偏置电压，使PNP型三极管Q1处于截止状态；

所述限流电阻R13一端连接PNP型三极管Q1的基极，所述限流电阻R13另一端连接NPN型三极管Q2的集电极，用于保护NPN型三极管Q2不被过大电流击穿；

所述限流电阻R14一端连接NPN型三极管Q2的基极，所述限流电阻R14另一端连接MCU的IO口，用于保护MCU的IO口不被过流击穿；

所述下拉电阻R12一端连接MCU的IO口，另一端接数字地，用于在不确定电平状态或高阻态时确保MCU的IO口为低电平，增强干扰能力。

5.根据权利要求1所述的基于核心板老化测试系统，其特征在于：每一路电流检测电路包括电流检测芯片U1、耦合电阻R5、运放芯片U2、嵌压芯片U3和滤波电容C3，所述电流检测芯片U1的型号为MAX4080TASA，所述运放芯片U2的型号为LM258，所述嵌压芯片的型号为BAT54S；

所述电流检测芯片U1的RS+引脚连接采样电阻R1的一端，所述电流检测芯片U1的RS-引脚连接采样电阻R1的另一端；

所述耦合电阻R5一端连接电流检测芯片U1的OUT引脚，另一端连接运放芯片U2的2IN+引脚，用于滤除噪声杂波；

所述嵌压芯片U3和滤波电容C3并联后连接运放芯片U2的2OUT引脚。

6.根据权利要求1所述的基于核心板老化测试系统，其特征在于：每一路系统监测电路包括系统监测芯片U5，该系统监测芯片U5的型号为SP3232EN；

所述系统监测芯片U5设有兼容TTL电平接口引脚，所述兼容TTL电平接口引脚用于接入核心板的TTL电平信号；

所述系统监测芯片U5设有两组监测接口引脚，两组监测接口引脚分别用于接收核心板从开机到Uboot启动的启动特征和从Uboot到system启动的启动特征。