[实用新型]一种用于选矿生产的矿浆品位测量与分析装置有效
| 申请号: | 201921722950.X | 申请日: | 2019-10-14 |
| 公开(公告)号: | CN211652623U | 公开(公告)日: | 2020-10-09 |
| 发明(设计)人: | 程小舟;刘志远;周德君;骆俊;朱洁;胡平;朱果 | 申请(专利权)人: | 中钢集团马鞍山矿山研究院有限公司;华唯金属矿产资源高效循环利用国家工程研究中心有限公司 |
| 主分类号: | G01N23/223 | 分类号: | G01N23/223;G05B19/042;G05D23/19 |
| 代理公司: | 马鞍山市金桥专利代理有限公司 34111 | 代理人: | 常前发;王益西 |
| 地址: | 243000 安徽省*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 用于 选矿 生产 矿浆 品位 测量 分析 装置 | ||
1.一种用于选矿生产的矿浆品位测量与分析装置,其特征在于,包括矿浆取样设备(1)、主控单元(2)、测量单元(3)、标定单元(4)、准直单元(5)、温控单元(6)和数据分析处理器(7),所述的主控单元(2)、测量单元(3)、标定单元(4)、准直单元(5)和温控单元(6)集成在整个箱体(8)内,所述的矿浆取样设备(1)就近安装在搅拌桶内,所述的数据分析处理器(7)安装在PC端工控机(9)中;所述的主控单元(2)采用STM32F407ZET6系列作为微处理器,主控单元(2)包括STM32F407最小系统以及串口通讯芯片,并由供电单元提供DC5V和DC3.3V电源;所述的测量单元(3)由X光管(301)及其配套的高压电源(302)以及信号处理放大一体式Si-Pin半导体进口探测器(303)构成;所述的标定单元(4)由标样检测执行机构(401)及步进电机控制模块(402)构成;所述的准直单元(5)包括光路准直器(501)和取样窗口滤光片(502)构成,其中光路准直器(501)由铜管制成,取样窗口滤光片(502)安装在取样窗口(101)内;所述的温控单元(6)由半导体制冷片(601)和微电脑温控器(602)构成,其中半导体制冷片(601)的冷端位于机箱内部,热端位于机箱外部,其中微电脑温控器(602)控制半导体制冷片(601)的启停;所述的矿浆取样设备(1)包括水射器吸浆部分(102)和取样窗口(101);所述的主控单元(2)中的串口通讯芯片设有两个,分别为MAX3232和MAX3485,主控单元(2)通过RS-232通讯模块与测量单元(3)中的X光管(301)及其配套的高压电源(302)、探测器(303)以及温控单元(6)连接,主控单元(2)还通过RS-485通讯模块与数据分析处理器(7)连接。
2.根据权利要求1所述的一种用于选矿生产的矿浆品位测量与分析装置,其特征在于,所述的箱体(8)采用左右面板开孔,前方面板可90度开启的设计结构。
3.根据权利要求1所述的一种用于选矿生产的矿浆品位测量与分析装置,其特征在于,所述光路准直器(501)和取样窗口滤光片(502)安装在取样窗口(101)前端。
4.根据权利要求1所述的一种用于选矿生产的矿浆品位测量与分析装置,其特征在于,所述的标定单元(4)为自动校正装置,并由主控单元(2)来控制标样检测执行机构(401)的运行,标样检测执行机构(401)内设有一个矿样标样块。
5.根据权利要求1所述的一种用于选矿生产的矿浆品位测量与分析装置,其特征在于,所述的取样窗口(101)位于箱体(8)的外部。
6.根据权利要求1所述的一种用于选矿生产的矿浆品位测量与分析装置,其特征在于,所述测量单元(3)采用低功率X光管(301)与配套的稳流高压电源(302)代替核源。
7.根据权利要求1所述的一种用于选矿生产的矿浆品位测量与分析装置,其特征在于,所述的微电脑温控器(602)用于检测机箱内部的温度,并根据X光管(301)以及探测器(303)的稳定工作温度设定机箱温度的合理区间。
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