[实用新型]一种基于展讯平台的LPDDR4芯片的测试装置

说明书

本实用新型公开了一种一种基于展讯平台的LPDDR4芯片的测试装置，包括：治具架和设置在治具架上的展讯SOC测试控制模块、显示模块、电流检测模块、开关控制模块和测试架；开关控制模块一端与外界电源连接，其另一端与展讯SOC测试控制模块连接，电流检测模块串联在展讯SOC测试控制模块和测试架之间，显示模块与SOC测试控制模块连接；SOC测试控制模块包括有展讯平台处理器，用于控制整个测试系统；开关控制模块用于给整个装置的断电和上电；电流检测模块用于显示线路的电流变化，测试架用于放置连接被测试的LPDDR4芯片。本实用新型技术方案旨在提出一种针对性强，实用简便，测试性能高的基于展讯平台的LPDDR4芯片的测试装置。

技术领域

本实用新型涉及存储芯片测试技术领域，特别涉及一种基于展讯平台的 LPDDR4芯片的测试装置。

背景技术

存储器的生产厂家众多，主控平台的种类也很多，不同的平台在使用存储器的时候会有相应的差异。对于平台应用厂家来说，存储器的选择是否和使用平台相兼容匹配，这对平台的应用性能和存储器的性能评估来说都是非常重要。

在现有的LPDDR4的测试中，如芯片SU256M32Z01MD1BNP-075BT，采用的是自动机台测试，机台测试的参数都是大范围的，对测试的全面性没有很高，且没有对相应的平台进行兼容性测试。一些存储器在不同的平台上，因为兼容性问题，发挥不出它本身最佳的性能，得不到高效的使用，这对平台和存储器都是一种资源的额外消耗，影响性能的同时也对电力节能方面产生影响。

实用新型内容

针对上述问题，本实用新型的主要目的是提出一种针对性强，实用简便，测试性能高的基于展讯平台的LPDDR4芯片的测试装置；该装置对LPDDR4芯片在展讯SOC上进行开机测试、压力测试，具有针对性强，实用简便，测试性能高的优点。

为实现上述目的，本实用新型提出的一种基于展讯平台的LPDDR4芯片的测试装置，包括：治具架和设置在所述治具架上的展讯SOC测试控制模块、显示模块、电流检测模块、开关控制模块和测试架；所述开关控制模块一端与外界电源连接，其另一端与所述展讯SOC测试控制模块连接，所述电流检测模块串联在所述展讯SOC测试控制模块和所述测试架之间，所述显示模块与所述SOC测试控制模块连接；所述SOC测试控制模块包括有展讯平台处理器，用于控制整个测试系统；所述开关控制模块用于给整个装置断电和上电；所述电流检测模块用于显示线路的电流变化，所述测试架用于放置连接被测试的LPDDR4芯片。

优选地，所述电流检测模块采用指针式万用表。

优选地，所述显示模块为触摸显示屏。

优选地，所述开关控制模块采用多接口模式，且包括多个控制按键，所述控制按键采用高弹性立柱式结构。

优选地，所述治具架采用玻纤材质。

优选地，所述测试架采用可拆卸结构。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：采用展讯平台处理器针对对LPDDR4芯片进行兼容性验证测试，确定不同类别的LPDDR4芯片在展讯SOC 平台上的使用效果。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。

图1为本实用新型的结构示意图；

本实用新型目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。

具体实施方式