[实用新型]一种射频开关芯片测试系统

说明书

本实用新型涉及一种射频开关芯片测试系统，其中，矢量信号收发仪的输出端连接至第一多路开关的其中一个接线端，第一多路开关的另一个接线端与矢量网络分析仪的输出端连接，第一多路开关的公共端与被测射频开关芯片的公共端连接，被测射频开关芯片的各个接线端与第二多路开关的各个接线端分别对接；第二多路开关与第三多路开关的公共端相互对接，第三多路开关的第一路接线端连接矢量网络分析仪的输入端，第二路接线端经衰减器连接至第四多路开关的接线端，第三路接线端与第四多路开关的另一接线端相接，第四多路开关的公共端与矢量信号收发仪的输入端相接；控制器与被测射频开关芯片通讯连接，并分别电连接各个多路开关的受控端和人机交互设备。

技术领域

本实用新型涉及芯片测试领域，尤其涉及一种射频开关芯片测试系统。

背景技术

5G射频开关芯片作为5G通信传送的转接站，在当前5G风口下显得越发重要，因此需对其进行质量测试。对于5G射频开关芯片而言，其质量通过插入损耗、隔离度、开关时间、谐波、BER、三阶交调点IP3等指标体现，因此需对各指标分别测试，其中，插入损耗、隔离度使用矢量网络分析仪VNA完成，开关时间、谐波、BER使用矢量网络分析仪VNA配合矢量信号收发仪VST中的VSG功能完成，三阶交调点IP3使用矢量信号收发仪VST中的VSG、VSA两个功能相互搭配完成，测试时，需要测试者手动接线来将5G射频开关芯片与相应测试设备组装，一方面导致测试耗时长，另一方面5G射频开关芯片在多次拆装过程中容易出现引脚损坏。

实用新型内容

本实用新型为改善现有技术中的不足之处，而提供一种射频开关芯片测试系统的硬件结构，待软件人员对其中的控制器编程后，射频开关芯片测试系统可免除测试者手动接线，缩短测试耗时。

为此，提出一种射频开关芯片测试系统，包括矢量信号收发仪、第一多路开关、第二多路开关、第三多路开关、衰减器、第四多路开关、矢量网络分析仪、控制器和人机交互设备，矢量信号收发仪的信号输出端连接至第一多路开关的其中一个接线端，第一多路开关的另一个接线端与矢量网络分析仪的信号输出端连接，第一多路开关的公共端与被测射频开关芯片的公共端连接，被测射频开关芯片的各个接线端与第二多路开关的各个接线端分别对接；第二多路开关的公共端与第三多路开关的公共端对接，第三多路开关具有至少三路接线端，其中第一路的接线端连接至矢量网络分析仪的信号输入端，第二路的接线端经衰减器连接至第四多路开关的接线端，第三路的接线端与第四多路开关的另一接线端相接，第四多路开关的公共端与矢量信号收发仪的信号输入端相接；控制器一方面与被测射频开关芯片通讯连接，另一方面分别电连接各个多路开关的受控端和所述人机交互设备。

进一步地，所述矢量信号收发仪的信号输出端与第一多路开关之间串接有功率放大器实现功率放大。

进一步地，所述功率放大器与第一多路开关之间串接有滤波器进行滤波。

进一步地，所述第二多路开关的开关路数与被测射频开关芯片的开关路数相同。

进一步地，所述人机交互设备具体是按键。

进一步地，各个多路开关具体为固态开关。

进一步地，矢量信号收发仪、第一多路开关、第二多路开关、第三多路开关、衰减器、第四多路开关、矢量网络分析仪之间的连线均为SMA线。

有益效果：

本实用新型的射频开关芯片测试系统，待软件人员对其中的控制器编程后，测试者可通过人机交互设备输入指令给控制器，使控制器切换各个多路开关及被测射频开关芯片的连接链路，如此，测试者在矢量信号收发仪或矢量网络分析仪上操作使其输出测量信号后，即可观察分析测量信号经连接链路后产生的变化，并据此变化分析出插入损耗、隔离度、开关时间、谐波、BER、三阶交调点IP3等指标，实现对射频开关芯片的测试。由于整个测试过程中测试者不用手动接线换线，故可缩短测试耗时，同时避免射频开关芯片因多次拆装而引起引脚损坏。