[实用新型]一种集成全静态偏振分析器有效

专利信息
申请号: 201921458820.X 申请日: 2019-09-04
公开(公告)号: CN210293457U 公开(公告)日: 2020-04-10
发明(设计)人: 宋志平;汪鹏 申请(专利权)人: 安徽大学
主分类号: G01J3/447 分类号: G01J3/447;G01J3/02;G01J4/00
代理公司: 合肥方舟知识产权代理事务所(普通合伙) 34158 代理人: 朱荣
地址: 230000 安徽省*** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 一种 集成 静态 偏振 分析器
【说明书】:

实用新型提供一种集成全静态偏振分析器,涉及偏振分析器领域。该集成全静态偏振分析器,包括圆筒,所述圆筒的内部通过螺纹固定安装有第一高阶延迟器,所述圆筒的内部通过螺纹连接有第二高阶延迟器。该集成全静态偏振分析器,通过将第一高阶延迟器和第二高阶延迟器和一片偏振片,按特定方向集成安装在圆筒中,利用光谱仪测量记录偏振分析器输出的功率谱,实现待测光偏振光谱信息的完整获取,只需对给出的圆筒的直径作相应变动,选取对应波长的偏振片,即可实现偏振分析器与不同光谱仪的连接,并实现不同光谱范围的偏振光谱仪设计,能有效避免传统测量方法因分时多次测量引入虚假偏振而导致偏振测量精度低的问题。

技术领域

本实用新型涉及偏振分析器技术领域,具体为一种集成全静态偏振分析器。

背景技术

偏振分析器可实现待测光信号偏振光谱信息调制功能,是偏振光谱仪的重要组成部分。现有的偏振光谱仪产品中,偏振分析器多采用波片和偏振片级联,通过旋转偏振片或波片,利用后续连接的光谱仪,多次测量不同方向的偏振调制信号,再经过解调处理,实现待测光偏振光谱信息测量。基于这种偏振分析器搭建的偏振光谱仪,需要通过分时多次测量记录偏振分析器输出的光信号,方可解析得到待测光完整或部分偏振光谱信息。

然而,在室外遥感测量应用时,多次测量过程中很难保证待测目标是静止的,而偏振信息的测量原理又限定了多次测量得到的不同方向的偏振辐射,必须来自完全相同的视场,方可正确解析出目标的偏振信息。因此,传统偏振测量技术在野外遥感测量过程中,难免会引入虚假偏振,影响偏振光谱仪的偏振测量精度。

实用新型内容

(一)解决的技术问题

针对现有技术的不足,本实用新型提供了一种集成全静态偏振分析器,解决了上述背景技术中提出的偏振测量技术在野外遥感测量过程中会引入虚假偏振而导致测量精度不高的问题。

(二)技术方案

为实现以上目的,本实用新型通过以下技术方案予以实现:一种集成全静态偏振分析器,包括圆筒,所述圆筒的内部通过螺纹固定安装有第一高阶延迟器,所述圆筒的内部通过螺纹连接有第二高阶延迟器,所述圆筒的内壁安装有偏振片,所述圆筒的内壁设置有封装器,所述圆筒的表面卡接有卡板,所述卡板的侧面设置有上卡扣,所述卡板的另一侧固定连接有上卡带,所述卡板的侧面设置有下卡扣,所述下卡扣的内部贯穿连接有下卡带,所述卡板的底部固定安装有移动座,所述移动座的内部通过螺纹连接有丝杆,所述丝杆的一端固定连接有手把,所述丝杆的另一端连接有底座,所述底座的表面开设有滑槽。

优选的,所述第一高阶延迟器、第二高阶延迟器和偏振片的外表面均包含一个有螺纹的适配器,且圆筒通过适配器的螺纹分别与第一高阶延迟器、第二高阶延迟器和偏振片连接。

优选的,所述第二高阶延迟器的厚度是第一高阶延迟器厚度的两倍,且第一高阶延迟器的快轴与第二高阶延迟器快轴所成夹角为四十五度。

优选的,所述偏振片的透光轴方向与第一高阶延迟器的快轴方向一致,所述偏振片与第一高阶延迟器和第二高阶延迟器之间有无空隙均可。

优选的,所述卡板为曲面设置,且卡板的横截面为四分之三圆周的圆环。

优选的,所述上卡带和下卡带的一端均与卡板的截断面固定连接,且上卡带和下卡带的另一端分别与上卡扣和下卡扣扣接。

优选的,所述丝杆贯穿于底座的一个侧面,且丝杆依次贯穿于底座的侧面、移动座的表面和滑槽的内部。

(三)有益效果

本实用新型提供了一种集成全静态偏振分析器。具备有益效果如下:

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