[实用新型]一种X射线衍射仪用样品台

说明书

本实用新型提供了一种X射线衍射仪用样品台，包括支撑台，在支撑台上设置有样品槽，样品槽中布置有样品托盘，支撑台上还设置有安装槽，安装槽位于样品槽的旁侧，在安装槽中设置有电热膜加热件，使得电热膜加热件能够通过热辐射的方式对样品托盘上的待测样品进行加热，从而实现对待测样品进行温度调节；在使用该样品台时，将待测样品放置在样品托盘之中，然后将支撑台支撑放置在X射线衍射仪中，在通过X射线衍射仪对待测样品进行测试时，电热膜加热件能够通过热辐射的方式对待测样品进行加热，以对待测样品进行温度调节，从而能够测试不同温度下待测样品的性能，使得测试结果能够更加准确的反映待测样品在不同温度下的材料性能。

技术领域

本实用新型涉及一种X射线衍射仪用样品台。

背景技术

X射线衍射（简称XRD）是分析材料结构的重要手段，在冶金、化工、材料合成、药学等领域发挥着重要的作用。X射线衍射仪就是利用衍射原理研究晶体材料以及部分非晶材料的微观结构的主要仪器。鉴于材料随着温度的变化，材料的晶体结构会有所不同，甚至材料会发生物相变化，这就会使得材料的性质发生改变。因此在材料开发中，用XRD实时监测材料随着温度改变的变化越来越受到重视。

在现有技术中，如授权公告号为CN207007750U的中国实用新型专利公开的一种简易多形状X射线衍射仪样品台，该样品台包括支撑台，支撑台具有样品槽，在样品槽中高度可调的布置有置样台，以根据放入置样台上的样品量调节置样台至合适的高度。目前，现有的X射线衍射仪大多是在室内环境温度下使用的，但是，待测材料的实际工作环境温度不是一成不变的，而且待试材料在不同的温度下的性质会有所变化，这就使得仅在室温下的测试结果与待试材料在实际工作环境温度下的实际性质往往有很大偏差，不能测试不同温度下待试材料的性能，无法准确反映待试材料实际性能。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种X射线衍射仪用样品台，以解决现有技术中仅在室温下对样品进行测试而导致不能准确反映待测样品在不同温度下材料性能的技术问题。

为实现上述目的，本实用新型的X射线衍射仪用样品台采用如下技术方案：

一种X射线衍射仪用样品台，包括：支撑台，用于支撑放置在X射线衍射仪中；样品槽，设置于所述支撑台的上端面；样品托盘，布置在所述样品槽中以承托待测样品；其特征在于，安装槽，设置在所述支撑台上，布置与所述样品槽的旁侧；电热膜加热件，设置在所述安装槽中，以通过热辐射的方式加热所述样品托盘上的待测样品。

本实用新型的有益效果在于：支撑台上设置有样品槽，样品槽中布置有用于承托待测样品的样品托盘，支撑台上还设置有布置与样品槽旁侧的安装槽，而且在安装槽中还设置有电热膜加热件，使得电热膜加热件能够通过热辐射的方式对样品托盘上的待测样品进行加热，从而对待测样品进行温度调节。在使用该样品台时，将待测样品放置在样品托盘之中，然后将支撑台支撑放置在X射线衍射仪中，在通过X射线衍射仪对待测样品进行测试时，电热膜加热件能够通过热辐射的方式对待测样品进行加热，以对待测样品进行温度调节，从而能够测试不同温度下待测样品的性能，使得测试结果能够更加准确的反映待测样品在不同温度下的材料性能。

进一步地，所述支撑台于所述样品槽下方旁侧设有所述安装槽。

有益效果：在样品槽下方设置安装槽，尽量减小支撑台整体径向尺寸。

进一步地，支撑台上于所述样品槽的底部设有螺纹孔，所述螺纹孔穿过所述安装槽，在螺纹孔中螺旋装配有支撑螺杆，所述支撑螺杆与所述样品托盘顶撑配合，以驱使样品托盘在样品槽中上下升降。

有益效果：支撑螺杆在螺纹孔中进行螺旋上下运动，以对支撑杆顶撑的样品托盘的高度调节，实现了根据放入样品托盘中的待测样品量，调节样品托盘位于样品槽中合适的高度。

进一步地，所述电热膜加热件上设有与所述螺纹孔对应的避让孔，以供所述支撑螺杆穿过。