[实用新型]用于控制晶体管的控制电路及驱动电路有效

专利信息
申请号: 201921401205.5 申请日: 2019-08-27
公开(公告)号: CN211152267U 公开(公告)日: 2020-07-31
发明(设计)人: 张波 申请(专利权)人: 杭州必易微电子有限公司
主分类号: H05B45/30 分类号: H05B45/30
代理公司: 上海金盛协力知识产权代理有限公司 31242 代理人: 王松
地址: 310053 浙江省杭州市滨*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 用于 控制 晶体管 控制电路 驱动 电路
【权利要求书】:

1.一种用于控制晶体管的控制电路,其特征在于,所述控制电路包括:

基准产生电路,输出端提供基准信号;所述基准产生电路包括第一基准产生电路及第二基准产生电路,第一基准产生电路的输出端耦接第二基准产生电路;所述第一基准产生电路的输出端提供第一基准信号;所述第二基准产生电路的第一输入端耦接第一基准产生电路的输出端,第二基准产生电路的第二输入端耦接检测信号,所述第二基准产生电路的输入端耦接所述第一基准信号和检测信号,输出端提供基准信号;以及

驱动级电路,其第一输入端耦接所述基准产生电路输出的基准信号,驱动级电路的第二输入端耦接表征流过晶体管的电流的电流采样信号,所述驱动级电路的输出端耦接晶体管的控制端,所述驱动级电路用以根据所述基准信号及所述电流采样信号控制所述晶体管的电流。

2.根据权利要求1所述的控制电路,其特征在于,基准产生电路的输入端接收检测信号,根据检测信号获取时间信息并用于确定时间间隔。

3.根据权利要求2所述的控制电路,其特征在于,其中基准产生电路包括比较电路,所述比较电路的第一输入端耦接检测信号,所述比较电路的第二输入端耦接阈值信号,所述比较电路的输出端提供状态信号,所述基准产生电路基于状态信号获得时间间隔。

4.根据权利要求3所述的控制电路,其特征在于,所述第二基准产生电路的第二输入端耦接晶体管的端点或与晶体管串联耦接的器件的端点,第二基准产生电路接收的检测信号为电压采样信号,电压采样信号表征晶体管的端点电压或与晶体管串联耦接的器件的端点电压。

5.根据权利要求3所述的控制电路,其特征在于,所述第二基准产生电路的第二输入端耦接采样电阻,接收的检测信号为所述电流采样信号。

6.根据权利要求1所述的控制电路,其特征在于,所述第二基准产生电路包括一比较电路和信号处理电路,所述比较电路的第一输入端耦接检测信号,所述比较电路的第二输入端耦接阈值信号,所述比较电路的输出端提供一状态信号至信号处理电路。

7.根据权利要求1所述的控制电路,其特征在于,所述驱动级电路包括一误差放大电路,误差放大电路的第一输入端耦接检测信号,误差放大电路的第二输入端耦接基准信号,误差放大电路的输出端耦接晶体管的控制端,用于控制流过晶体管的电流,使得流过晶体管的电流跟随基准信号的波形而变化。

8.一种用于控制晶体管的控制电路,其特征在于,所述控制电路包括:

基准产生电路,用以输出基准信号,控制基准信号在时间间隔的第一时间区间内呈第一变化趋势,在时间间隔的第二时间区间内呈第二变化趋势,其中,在同一时间间隔内,时间间隔的第二时间区间发生于时间间隔的第一时间区间后,所述第一变化趋势与第二变化趋势相反;以及

驱动级电路,其第一输入端耦接所述基准产生电路输出的基准信号,驱动级电路的第二输入端耦接表征流过晶体管的电流的电流采样信号,所述驱动级电路的输出端耦接晶体管的控制端,所述驱动级电路用以根据所述基准信号及所述电流采样信号控制所述晶体管,使流过晶体管的电流随所述基准信号的变化而变化。

9.一种用于驱动负载的驱动电路,其特征在于,包括:

晶体管;以及

权利要求1至8任一所述的控制电路,其中所述控制电路耦接晶体管的控制端,控制晶体管的导通程度。

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