[实用新型]一种大面积可调光源手动测试基座

说明书

本实用新型公开了一种大面积可调光源手动测试基座，包括底座板和设置在其上的遮光罩，底座板上通滑动轨道设有移动滑台，移动滑台底部设有定位杆，定位杆被设在底座板前后两侧的装载定位座和测试定位座限位，移动滑台上通过架体设有测试基座组合，底座板上还通过竖向滑轨设有灯箱，灯箱两侧通过滑座与竖向滑轨连接，且顶部与竖向滑轨顶侧端板上设置的微分头连接，灯箱为大面积灯箱，覆盖装载定位座和测试定位座限定的行程区域。本实用新型结构简单，灯箱大面积独立设置，并且能够进行竖向调节，能调节灯箱投射到被测试芯片感光区的光强，并且灯箱的光强均匀性好，同时结构在测试过程中操作简单，实用性强。

技术领域

本实用新型涉及测试基座领域，特别涉及一种大面积可调光源手动测试基座。

背景技术

光学摄像芯片（CIS）及其摄像模组（CMOS），广泛应用于工业，医疗和消费等领域。伴随着终端用户对图像处理的要求，以及高像素图像采集和分析技术的发展，该产品在很多领域逐步替代了原始的玻璃光学镜头。

光学芯片模组的千万级化是CIS和CMOS行业的一大发展趋势，目前这种芯片主要应用在卫星，高空侦察机和高像素智能照相机方面。伴随该产品的封装，测试工艺的日趋成熟，应用于高清照相机、监控摄像头、手机摄像头以及电脑摄像头的趋势将不可阻挡。

在中国，虽然早在2004年就出现了1200万像素的光学芯片模组，但由于配套的封装、测试、组装的不配套，到目前为止千万级像素模组仍然不能很好的推向市场。

其中主要原因是没有这种高精度光学芯片模组测试技术及其测试检具。

光学芯片模组的测试涉及到的内容较多，如芯片高精密定位接触基座、探针、镜头、灯箱等。

现有技术中的带灯箱手动测试翻盖式插座，其结构在上盖上设置灯箱，这种方式灯箱强度由灯箱初始结构确定，当光源老化后，光强衰弱后，无法进行调节，则需要需更换灯箱，并且灯箱面积小，均匀性不够好。

实用新型内容

本实用新型为解决上述问题，提供一种大面积可调光源手动测试基座，结构简单，灯箱大面积独立设置，并且能够进行竖向调节，能调节灯箱投射到被测试芯片感光区的光强，并且灯箱的光强均匀性好，同时结构在测试过程中操作简单，实用性强。

为达到上述目的，本实用新型采用的技术方案是：一种大面积可调光源手动测试基座，包括底座板和设置在其上的遮光罩，底座板上通滑动轨道设有移动滑台，移动滑台底部设有定位杆，定位杆被设在底座板前后两侧的装载定位座和测试定位座限位，移动滑台上通过架体设有测试基座组合，底座板上还通过竖向滑轨设有灯箱，灯箱两侧通过滑座与竖向滑轨连接，且顶部与竖向滑轨顶侧端板上设置的微分头连接，灯箱为大面积灯箱，覆盖装载定位座和测试定位座限定的行程区域。

进一步地，装载定位座和所述测试定位座均设有磁铁。

进一步地，定位杆上设有缓冲结构。

进一步地，移动滑台上设有推拉把手。

综上所述，本实用新型具备以下优点：

本实用新型结构简单，灯箱大面积独立设置，并且能够进行竖向调节，能调节灯箱投射到被测试芯片感光区的光强，并且灯箱的光强均匀性好，同时结构在测试过程中操作简单，实用性强。

附图说明

图1是本实用新型的结构爆炸图；

图2是本实用新型结构示意图；

图3是本实用新型主视图。

具体实施方式

下面结合附图及实施例对本实用新型作进一步描述：

实施例1：