[实用新型]一种LED芯片点测机有效

专利信息
申请号: 201921095494.0 申请日: 2019-07-15
公开(公告)号: CN209266358U 公开(公告)日: 2019-08-16
发明(设计)人: 林永祥 申请(专利权)人: 琉明光电(常州)有限公司
主分类号: H01L21/66 分类号: H01L21/66;H01L21/683
代理公司: 常州市英诺创信专利代理事务所(普通合伙) 32258 代理人: 朱丽莎
地址: 213161 江苏省常州市武*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 外接盘 吸盘 第一空腔 点测机 内盘体 上表面 盘体 通孔 本实用新型 接气口 连通 设备技术领域 可拆卸连接 可拆卸的 平齐设置 外周面 硅片 内盘 吸附 拆卸 体内
【说明书】:

本实用新型涉及LED芯片检测设备技术领域,尤其是涉及一种LED芯片点测机,包括机架及设置在机架上的吸盘,所述吸盘包括外接盘和内盘体,所述内盘体上表面开设有若干第一通孔,所述内盘体内开设有第一空腔体,所述第一通孔与第一空腔体连通,所述内盘体上设置有接气口,所述接气口的一端与第一空腔体连通,所述外接盘可拆卸连接在内盘体上并且上表面相互平齐设置,所述外接盘上表面开设有若干第二通孔,本实用新型一种LED芯片点测机在使用时,通过在内盘体外周面设置可拆卸的外接盘,在需要使用时将外接盘安装在内盘体上即可,在不需要使用时将外接盘拆卸即可,改变了吸盘的吸附面积,也就适用于不同型号尺寸的硅片使用。

技术领域

本实用新型涉及LED芯片检测设备技术领域,尤其是涉及一种LED芯片点测机。

背景技术

随着科技的高速发展,LED芯片体积越做越小而市场需求越来越大,目前正被迅速普及的LED照明灯具,其发光主体就是形形色色的LED芯片。产品的生产离不开检测,大规模生产的芯片只能依靠全自动点测机进行检测。

芯片检测工序,就是先对芯片通电,然后用点测机测出芯片各种电性参数或光学参数。对芯片通电的方法是用探针针尖抵住芯片的电极,然后给探针接上电源。芯片电极和探针针尖之间的接触压力的控制是测试的重要工序,接触压力小会导致接触电阻大、接触不良以致误检;接触压力大又会将电极压出凹痕从而影响芯片外观和性能。

芯片规格不同,使用硅片的尺寸也不同,现有芯片点测机通过固定尺寸的吸盘将硅片吸附住,不能够适用于不同型号尺寸的硅片,需要更换吸盘,由于吸盘比较精密,其安装精度也比较高,这样就降低了点测机的工作效率。

发明内容

本实用新型要解决的技术问题是:为了解决芯片规格不同,使用硅片的尺寸也不同,现有芯片点测机通过固定尺寸的吸盘将硅片吸附住,不能够适用于不同型号尺寸的硅片,需要更换吸盘,由于吸盘比较精密,其安装精度也比较高,这样就降低了点测机的工作效率的问题,现提供了一种LED芯片点测机。

本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是:一种LED芯片点测机,包括机架及设置在机架上的吸盘,所述吸盘包括外接盘和内盘体,所述内盘体上表面开设有若干第一通孔,所述内盘体内开设有第一空腔体,所述第一通孔与第一空腔体连通,所述内盘体上设置有接气口,所述接气口的一端与第一空腔体连通,所述外接盘可拆卸连接在内盘体上并且上表面相互平齐设置,所述外接盘上表面开设有若干第二通孔,所述外接盘上开设有第二空腔体,所述第二通孔与第二空腔体连通,所述内盘体上开设有第三通孔,所述第三通孔与第一空腔体之间设置有相互连通的第四通孔,所述第三通孔内滑动设置有堵头,所述堵头与第三通孔之间设置有弹簧,在所述弹簧的作用下,所述堵头将第三通孔和第四通孔相互隔断,所述外接盘靠近第三通孔的一端设置有外接管口,所述外接管口与第二空腔体连通,所述外接管口插设在第三通孔内。通过在内盘体外周面设置可拆卸的外接盘,在需要使用时将外接盘安装在内盘体上即可,在不需要使用时将外接盘拆卸即可,改变了吸盘的吸附面积,也就适用于不同型号尺寸的硅片使用。

进一步地,所述第二通孔围绕第一通孔设置。

进一步地,所述外接盘上开设有滑槽,所述内盘体沿其径向开设有与与滑槽相匹配的滑块,所述滑块滑动设置在滑槽内。

为了能够便于外接盘的拆卸,进一步地,所述外接盘通过螺钉固定在内盘体上。通过螺钉实现将外接盘在内盘体上固定,这样的安装方式结构简单,也便于加工和后期维护。

本实用新型的有益效果是:本实用新型一种LED芯片点测机在使用时,通过在内盘体外周面设置可拆卸的外接盘,在需要使用时将外接盘安装在内盘体上即可,在不需要使用时将外接盘拆卸即可,改变了吸盘的吸附面积,也就适用于不同型号尺寸的硅片使用,避免了现有芯片点测机通过固定尺寸的吸盘将硅片吸附住,不能够适用于不同型号尺寸的硅片,需要更换吸盘,由于吸盘比较精密,其安装精度也比较高,这样就降低了点测机的工作效率的问题。

附图说明

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