[实用新型]一种45度滤波片偏光测量工具有效
| 申请号: | 201920919592.5 | 申请日: | 2019-06-19 |
| 公开(公告)号: | CN209927423U | 公开(公告)日: | 2020-01-10 |
| 发明(设计)人: | 欧鑫;黄凯威;陈绍强;谭军;李旭 | 申请(专利权)人: | 四川九州光电子技术有限公司 |
| 主分类号: | G01M11/04 | 分类号: | G01M11/04 |
| 代理公司: | 51280 成都诚中致达专利代理有限公司 | 代理人: | 曹宇杰 |
| 地址: | 621000 四川*** | 国省代码: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 孔板 待测物 滤波片 光源发射器 放置台 刻度板 刻度面 臂架 法向 偏光 通孔 平行 测量 滤波片组装 出光光线 垂直连接 角度检测 直线垂直 相交处 工站 共线 连带 反射 报废 | ||
1.一种45度滤波片偏光测量工具,其特征在于,包括:
臂架,包括一对臂(21),一个所述臂(21)一端与另一个所述臂(21)一端垂直连接;
第一孔板(22)和第二孔板(23),间隔设于一个所述臂(21),所述第一孔板(22)的通孔和所述第二孔板(23)的通孔位于第一直线,所述第一直线与该所述臂(21)的长度方向平行;
光源发射器(41),设于一个所述臂(21),所述光源发射器(41)出光光线与所述第一直线共线,且位于与所述臂架平行的第一平面;
刻度板(42),设于另一个所述臂(21),所述刻度板(42)的刻度面法向中心线位于所述第一平面,且与所述第一直线垂直;
放置台(11),用于放置待测物,所述待测物内具有45度滤波片;
当所述待测物放置于所述放置台(11)时,所述45度滤波片中心位于所述第一直线与所述刻度面法向中心线相交处。
2.根据权利要求1所述的45度滤波片偏光测量工具,其特征在于:所述放置台(11)顶面设放置槽(12),用于放置待测物,所述放置槽(12)端面呈直角三角形,所述直角三角形的一直角边与一个所述臂(21)平行,另一直角边与另一个所述臂(21)平行。
3.根据权利要求2所述的45度滤波片偏光测量工具,其特征在于:所述放置槽(12)内设有至少一个限位件,所述限位件,用于对放置的所述待测物进行位置限定,以使所述45度滤波片中心位于所述第一直线与所述刻度面法向中心线相交处。
4.根据权利要求1所述的45度滤波片偏光测量工具,其特征在于:所述第一孔板(22)和第二孔板(23)均为L型,包括水平段和竖直段,所述水平段设于所述臂(21)的卡槽,所述通孔位于所述竖直段,所述卡槽平行于所述第一直线。
5.根据权利要求1所述的45度滤波片偏光测量工具,其特征在于,所述放置台(11)设于底座(10),所述臂架位于所述放置台(11)一侧,所述臂架通过支柱(24)固定于所述底座(10)。
6.根据权利要求1所述的45度滤波片偏光测量工具,其特征在于:还包括调节机构(5),所述光源发射器(41)通过调节机构(5)设于一个所述臂(21),所述调节机构(5),用于对所述光源发射器(41)的出光进行位置调节和方向调节,以使所述光源发射器(41)出光光线与所述第一直线共线,且位于与所述臂架平行的第一平面。
7.根据权利要求6所述的45度滤波片偏光测量工具,其特征在于,所述调节机构(5),包括位置调节组件和方向调节组件,所述光源发射器(41)设于所述位置调节组件,所述位置调节组件设于所述方向调节组件,所述方向调节组件设于一个所述臂(21),其中:
所述位置调节组件,用于在与出光方向垂直的面内,沿一个方向和/或另一个与该方向垂直的方向移动所述光源发射器(41);
所述方向调节组件,用于在与臂架平行的出光光线所在面内,调节所述光源发射器(41)出光角度。
8.根据权利要求7所述的45度滤波片偏光测量工具,其特征在于,所述位置调节组件,包括:
第一固定座(521),设于所述方向调节组件,所述第一固定座(521)设有第一滑槽;
第一移动件(522),设于所述第一固定座(521),滑动配合于所述第一滑槽;
第二固定座(523),设于所述第一移动件(522),所述第二固定座(523)设有第二滑槽;
第二移动件(524),设于所述第二固定座(523),滑动配合于所述第二滑槽;
光源固定部(500),设于所述第二移动件(524),所述光源发射器(41)设于所述光源固定部(500);
所述第一滑槽的长度方向和所述第二滑槽的长度方向垂直。
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