[实用新型]一种集成电路测试设备

权利要求书

1.一种集成电路测试设备，包括集成电路器件本体(1)以及其上表面边缘处设置的若干引脚(11)，其特征在于：所述集成电路器件本体(1)的上表面设置有测试基座(2)，且测试基座(2)下表面的开孔分别与所述集成电路器件本体(1)上表面一侧边缘处的引脚(11)套接匹配，所述测试基座(2)正面靠近顶端处沿水平方向开设有槽口，且槽口的下表面位于所述引脚(11)的正上方处开设有向下延伸的凹槽，所述测试基座(2)槽口内设置凹槽的底面低于所述引脚(11)的上表面。

2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试设备，其特征在于：所述测试基座(2)正面开设的槽口内滑动卡接有橡胶套(211)，所述橡胶套(211)的长度小于所述测试基座(2)正面与所述引脚(11)正面之间的距离，且橡胶套(211)的轴心处开设有用于套接探针的通孔。

3.根据权利要求2所述的一种集成电路测试设备，其特征在于：所述测试基座(2)的上表面开设有槽体结构，且槽体结构靠近正面的壁体两侧分别设置有限位套壳(21)，所述限位套壳(21)分别套接在所述橡胶套(211)两端的外围，所述限位套壳(21)的外径大于所述测试基座(2)正面开设槽口的宽度。

4.根据权利要求3所述的一种集成电路测试设备，其特征在于：所述橡胶套(211)的外径等于所述测试基座(2)正面槽口底部开设凹槽的宽度。

5.根据权利要求4所述的一种集成电路测试设备，其特征在于：所述测试基座(2)正面槽口底部的凹槽的两内侧面粘贴有橡胶凸起(22)。

6.根据权利要求5所述的一种集成电路测试设备，其特征在于：所述橡胶凸起(22)之间的最小距离大于探针外径与两倍橡胶套(211)厚度之和。