[实用新型]一种用于筒体构件的磁记忆检测移动装置有效
| 申请号: | 201920407887.4 | 申请日: | 2019-03-27 |
| 公开(公告)号: | CN209858479U | 公开(公告)日: | 2019-12-27 |
| 发明(设计)人: | 吕琴;陈乐;胡斌;原可义 | 申请(专利权)人: | 中国计量大学 |
| 主分类号: | G01N27/83 | 分类号: | G01N27/83;G01N27/87 |
| 代理公司: | 33200 杭州求是专利事务所有限公司 | 代理人: | 林超 |
| 地址: | 310018 浙江省*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 磁敏探头 底座 半圆支架 探头架 本实用新型 检测 电动推杆 升降杆 两组 磁记忆检测 等间隔布置 侧面 变径筒体 人为因素 筒体构件 移动装置 周向交错 转动筒体 半圆环 漏检 探头 凸耳 组磁 移动 | ||
本实用新型公开了一种用于筒体构件的磁记忆检测移动装置。包括磁敏探头、探头架、升降杆、底座和电动推杆,底座由一对半圆环相互对接组成,底座置于地面;探头架位于底座上方,底座通过多根升降杆与探头架相连,探头架由两个半圆支架通过两端各自设有的凸耳相互对接组成;每个半圆支架内侧面布置有上下两组磁敏探头,每组磁敏探头由多个沿周向等间隔布置于半圆支架内侧面的磁敏探头组成,上下两组磁敏探头沿周向交错布置,每个磁敏探头均通过电动推杆与半圆支架内侧面相连。本实用新型装置能够克服漏检的情况以及变径筒体检测的难点,以及整个检测过程中不需要移动或者转动筒体构件,避免了人为因素的影响从而有助于缩短检测周期,提高检测效率。
技术领域
本实用新型属于无损检测领域,具体涉及一种用于筒体构件的磁记忆检测移动装置。
背景技术
目前金属磁记忆检测属于弱磁检测方法,它是一种能以高准确度确定铁磁性构件以应力和应变集中区域为标志的无损检测方法,可以通过早期的诊断较为准确地评价设备的安全性。金属磁记忆监测装置的探头的尺寸通常很小,可以方便实现单点测量。
现阶段,磁记忆检测时探头大部分还是手持方式,探头与被测对象之间的方向和提离高度受到人为因素的影响导致稳定性很差,从而使得测量结果不精确。
现阶段,大多数筒体的磁记忆无损检测方法是通过一个磁敏探头在筒体表面处沿筒体的长度方向做多次往复运动,实现对筒体全面的磁记忆检测。这种检测方法十分繁琐,不但需要磁敏探头大量的往复运动才能对筒体进行全面检测,检测周期长,效率低。
现阶段,已有的改良装置是一种多通道磁记忆检测装置,圆筒形结构,解决了待测筒体的磁记忆检测,装置上做出了很大的改善,但是它针对的筒体为待测可移动筒体,需要人为将筒体放置合适的位置并且需要相应的转动设备转动筒体才能完成检测,而大部分筒体笨重,人为移动到合适位置不仅不方便,还会影响到后续的检测结果,使用具有很大的局限性。
实用新型内容
为了解决背景技术中的问题,本实用新型提出了一种用于筒体构件的磁记忆检测移动装置,能够克服漏检的情况以及变径筒体检测的难点,以及在整个检测过程中不需要移动或者其他设备转动筒体构件,避免了人为因素的影响,尤其在筒体构件高度较高,重量较重的情况下就需要检测装置非常灵活且高效率的检测。
本实用新型包括磁敏探头、探头架、升降杆、底座和电动推杆,所述底座由一对半圆环相互对接组成,两个半圆环的对接处通过薄片相连,底座置于地面,筒体试块置于底座中间;探头架位于底座上方,底座通过多根升降杆与探头架相连,探头架由两个半圆支架通过两端各自设有的凸耳相互对接组成;每个半圆支架内侧面布置有上下两组磁敏探头,同一组磁敏探头位于同一水平圆周面,每组磁敏探头主要由多个沿周向等间隔布置于半圆支架内侧面的磁敏探头组成,上下两组磁敏探头沿周向交错布置,每个磁敏探头均通过嵌装于固定槽的电动推杆与半圆支架内侧面相连。
每个所述的电动推杆的端头处固定有磁敏探头,磁敏探头均朝向半圆支架圆心位置,使得磁敏探头与筒体试块待测表面保持垂直。
两个半圆支架相互对接的凸耳之间通过固定螺栓相连。
检测过程中,所述磁敏探头位于筒体试块周面外侧,且磁敏探头与筒体试块之间留有间隙。
每个所述磁敏探头安装有限位器和位置传感器;限位器根据磁敏探头和筒体试块之间的提离值控制电动推杆伸缩移动,从而带动磁敏探头沿半圆支架的径向伸缩移动;位置传感器通过升降杆控制探头架沿筒体试块外周面上下匀速移动,保证磁敏探头检测的效率。
提离值为传感器与被测件之间的距离。
整个移动装置所用材料均为非铁磁性材料。
探头架在初始状态位于筒体试块上方。
本实用新型的有益效果是:
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