[发明专利]标定方法及装置、处理器、电子设备、存储介质有效
| 申请号: | 201911420020.3 | 申请日: | 2019-12-31 |
| 公开(公告)号: | CN111060138B | 公开(公告)日: | 2022-01-28 |
| 发明(设计)人: | 慕翔;陈丹鹏 | 申请(专利权)人: | 上海商汤智能科技有限公司 |
| 主分类号: | G01C25/00 | 分类号: | G01C25/00 |
| 代理公司: | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人: | 熊永强;董文俊 |
| 地址: | 200233 上海市徐*** | 国省代码: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 标定 方法 装置 处理器 电子设备 存储 介质 | ||
1.一种标定方法,其特征在于,所述方法包括:
获取成像设备的至少两个位姿和惯性传感器的至少两个第一采样数据;
对所述至少两个位姿进行样条拟合处理得到第一样条曲线,对所述至少两个第一采样数据进行样条拟合处理得到第二样条曲线;
获取预设的参考位姿转换关系;
依据所述参考位姿转换关系对所述第二样条曲线进行转换,得到第三样条曲线;
依据所述第一样条曲线与所述第三样条曲线,得到第一差异;
在所述第一差异小于或等于第一阈值的情况下,确定所述参考位姿转换关系为所述成像设备与所述惯性传感器之间的时空偏差,所述时空偏差包括位姿转换关系;
或,获取成像设备的至少两个位姿和惯性传感器的至少两个第一采样数据;
对所述至少两个位姿进行样条拟合处理得到第一样条曲线,对所述至少两个第一采样数据进行样条拟合处理得到第二样条曲线;
获取预设的第二时间偏移量;
将所述第一样条曲线中的点的时间戳与所述第二时间偏移量相加,得到第九样条曲线;
依据所述第九样条曲线与所述第二样条曲线,得到第四差异;
在所述第四差异小于或等于第四阈值的情况下,确定所述第二时间偏移量为所述成像设备与所述惯性传感器之间的时空偏差,所述时空偏差包括采样时间偏移量。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在所述时空偏差包括所述位姿转换关系的情况下,所述时空偏差还包括采样时间偏移量;所述第一样条曲线中的点均携带时间戳信息;
所述在所述第一差异小于或等于第一阈值的情况下,确定所述参考位姿转换关系为所述成像设备与所述惯性传感器之间的位姿转换关系之前,所述方法还包括:
获取预设的第一时间偏移量;
将所述第三样条曲线中的点的时间戳与所述第一时间偏移量相加,得到第四样条曲线;
所述依据所述第一样条曲线与所述第三样条曲线,得到第一差异,包括:
依据所述第四样条曲线与所述第一样条曲线,得到所述第一差异;
所述在所述第一差异小于或等于第一阈值的情况下,确定所述参考位姿转换关系为所述成像设备与所述惯性传感器之间的位姿转换关系,包括:
在所述第一差异小于或等于所述第一阈值的情况下,确定所述参考位姿转换关系为所述成像设备与所述惯性传感器之间的位姿转换关系,以及确定所述第一时间偏移量为所述成像设备与所述惯性传感器之间的采样时间偏移量。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述惯性传感器包括惯性测量单元;所述至少两个位姿包括至少两个姿态;所述至少两个第一采样数据包括至少两个第一角速度;
所述对所述至少两个位姿进行样条拟合处理得到第一样条曲线,包括:
依据所述至少两个姿态,得到所述成像设备的至少两个第二角速度;
对所述至少两个第二角速度进行样条拟合处理,得到所述第一样条曲线;
所述对所述至少两个第一采样数据进行样条拟合处理得到第二样条曲线,包括:
对所述至少两个第一角速度进行样条拟合处理,得到所述第二样条曲线。
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