[发明专利]存储设备及其操作方法

权利要求书

1.一种存储器控制器，所述存储器控制器用于控制包括多个存储器块的存储器设备，所述存储器控制器包括：

读取操作控制器，所述读取操作控制器被配置为控制所述存储器设备以通过使用多个参考电压中的至少一个参考电压，读取所述多个存储器块中的第一块的所选择的存储器单元；

单元状态确定器，所述单元状态确定器被配置为将在所述所选择的存储器单元中的、被读取为第一存储器单元的存储器单元的数目和与所述至少一个参考电压相对应的参考数目进行比较，并且生成单元状态信息，所述单元状态信息指示与多个状态中的至少一个状态相对应的存储器单元退化程度；以及

读取回收控制器，所述读取回收控制器被配置为基于所述存储器单元退化程度与阈值退化程度之间的比较，控制所述存储器设备以将存储在所述第一块中的数据复制到从所述多个存储器块中选择的第二块。

2.根据权利要求1所述的存储器控制器，其中所述单元状态确定器将多个参考数目中的所述参考数目与被读取为所述第一存储器单元的所述存储器单元的所述数目进行比较，并且

其中所述多个参考数目基于所述所选择的存储器单元的所述数目和所述多个参考电压而被确定。

3.根据权利要求2所述的存储器控制器，其中所述第一存储器单元是开启单元或关闭单元中的一者。

4.根据权利要求1所述的存储器控制器，其中所述多个参考电压是与所述多个状态相对应的初始阈值电压分布的平均电压。

5.根据权利要求1所述的存储器控制器，其中所述多个参考电压是用于区分所述多个状态的默认读取电压。

6.根据权利要求1所述的存储器控制器，其中所述单元状态确定器使用被读取为所述第一存储器单元的所述存储器单元的所述数目与所述参考数目之间的差来计算所述存储器单元退化程度。

7.根据权利要求1所述的存储器控制器，其中当基于所述存储器单元退化程度确定的样本值大于所述阈值退化程度时，所述读取回收控制器控制所述存储器设备以将存储在所述第一块中的所述数据复制到所述第二块中。

8.根据权利要求7所述的存储器控制器，其中所述读取回收控制器确定：所述采样值包括所述存储器单元退化程度的最小值、平均值、中间值和最大值。

9.根据权利要求1所述的存储器控制器，还包括错误校正器，所述错误校正器被配置为：对从所述所选择的存储器单元读取的数据执行错误校正解码，并且基于通过执行所述错误校正解码而获得的结果，生成表示比特错误率的比特错误信息。

10.根据权利要求9所述的存储器控制器，其中所述读取回收控制器基于通过将所述比特错误率与阈值错误率进行比较而获得的结果，控制所述存储器设备以将存储在所述第一块中的所述数据复制到所述第二块。

11.根据权利要求1所述的存储器控制器，其中当所述存储器设备处于空闲状态时，所述读取操作控制器控制所述存储器设备以读取存储数据所在的多个逻辑页，以及

其中所述多个逻辑页包括至少一个逻辑页，所述至少一个逻辑页对应于包括所述所选择的存储器单元的物理页。

12.根据权利要求1所述的存储器控制器，其中当所述存储器设备处于空闲状态时，所述读取操作控制器控制所述存储器设备以读取在所有所述多个存储器块中包括的物理页，以及

其中所述物理页中的一个物理页包括所述所选择的存储器单元。