[发明专利]非易失存储器的擦除方法及装置

权利要求书

1.一种非易失存储器的擦除方法，其特征在于，所述方法包括：

对待擦除区域进行擦除，并在所述擦除操作执行完成后，检测所述待擦除区域中是否存在擦除失败的区域；

当所述待擦除区域中存在擦除失败的区域时，检测所述擦除失败的区域的数量是否小于或等于预设阈值且大于零；

若所述擦除失败的区域的数量小于或等于预设阈值且大于零，则对所述擦除失败的区域进行擦除，直至所述擦除失败的区域的数量为零时，进入软编程步骤。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述检测所述待擦除区域中是否存在擦除失败的区域之后，还包括：

当所述待擦除区域中不存在擦除失败的区域时，进入软编程步骤。

3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述当所述待擦除区域中存在擦除失败的区域时，检测所述擦除失败的区域的数量是否小于或等于预设阈值且大于零之后，还包括：

若所述擦除失败的区域的数量大于预设阈值，则执行所述对待擦除区域进行擦除，并在所述擦除操作执行完成后，检测所述待擦除区域中是否存在擦除失败的区域的步骤。

4.如权利要求1至3中任一项所述的方法，其特征在于，所述预设阈值小于且大于零，其中，M为待擦除区域中存在的区域的数量。

5.一种非易失存储器的擦除装置，其特征在于，所述装置包括：

第一检测模块，用于对待擦除区域进行擦除，并在所述擦除操作执行完成后，检测所述待擦除区域中是否存在擦除失败的区域；

第二检测模块，用于当所述待擦除区域中存在擦除失败的区域时，检测所述擦除失败的区域的数量是否小于或等于预设阈值且大于零；

降级擦除模块，用于若所述擦除失败的区域的数量小于或等于预设阈值且大于零，则对所述擦除失败的区域进行擦除，直至所述擦除失败的区域的数量为零时，进入软编程步骤。

6.如权利要求5所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：

执行模块，用于当所述待擦除区域中不存在擦除失败的区域时，进入软编程步骤。

7.如权利要求5所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：

循环模块，用于若所述擦除失败的区域的数量大于预设阈值，则执行所述对待擦除区域进行擦除，并在所述擦除操作执行完成后，检测所述待擦除区域中是否存在擦除失败的区域的步骤。

8.如权利要求5至7中任一项所述的装置，其特征在于，所述预设阈值小于且大于零，其中，M为待擦除区域中存在的区域的数量。