[发明专利]信号源位置确定方法、装置、电子设备及计算机存储介质

说明书

本发明实施例公开了一种信号源位置确定方法、装置、电子设备及计算机存储介质。该信号源位置确定方法，包括：获取各个采样点的频谱扫描数据；利用任两采样点的频谱扫描数据中的采样点位置和天线波达角，确定预设数量个交叉点；聚类预设数量个交叉点，确定交叉点聚类中心并将交叉点聚类中心作为信号源位置。根据本发明实施例，能够高效率地确定信号源位置。

技术领域

本发明属于无线技术领域，尤其涉及一种信号源位置确定方法、装置、电子设备及计算机存储介质。

背景技术

目前，传统信号源位置确定方法是使用扫频仪和八木天线，通过手动旋转八木天线获得信号源的方位，再利用交叉线定位算法确定信号源位置。但是，人工手动旋转八木天线、利用交叉线定位算法计算信号源位置，导致信号源位置确定效率低。

因此，如何高效率地确定信号源位置是本领域技术人员亟需解决的技术问题。

发明内容

本发明实施例提供一种信号源位置确定方法、装置、电子设备及计算机存储介质，能够高效率地确定信号源位置。

第一方面，提供了一种信号源位置确定方法，包括：

获取各个采样点的频谱扫描数据；

利用任两采样点的频谱扫描数据中的采样点位置和天线波达角，确定预设数量个交叉点；

聚类预设数量个交叉点，确定交叉点聚类中心并将交叉点聚类中心作为信号源位置。

可选地，确定交叉点聚类中心并将交叉点聚类中心作为信号源位置之后，还包括：

将信号源位置与预设现网工参基站位置进行匹配；

当信号源位置与预设现网工参基站位置无法匹配时，则将信号源位置作为干扰源位置。

可选地，利用任两采样点的频谱扫描数据中的采样点位置和天线波达角，确定预设数量个交叉点，包括：

对各个采样点的频谱扫描数据进行频率维度降维，得到对应的第一频谱扫描数据；

对各个第一频谱扫描数据进行去重，得到对应的第二频谱扫描数据；

利用任两采样点的第二频谱扫描数据中的采样点位置和天线波达角，确定预设数量个交叉点。

可选地，获取各个采样点的频谱扫描数据之后，还包括：

根据任一采样点的频谱扫描数据中的现网工作频段，确定任一采样点的采样点类型。

可选地，获取各个采样点的频谱扫描数据，包括：

利用扫频仪和相控阵天线采集各个采样点的频谱扫描数据。

可选地，聚类预设数量个交叉点，确定交叉点聚类中心并将交叉点聚类中心作为信号源位置，包括：

基于k-means聚类算法聚类预设数量个交叉点，确定信号源位置。

第二方面，提供了一种信号源位置确定装置，包括：

获取模块，用于获取各个采样点的频谱扫描数据；

第一确定模块，用于利用任两采样点的频谱扫描数据中的采样点位置和天线波达角，确定预设数量个交叉点；

第二确定模块，用于聚类预设数量个交叉点，确定交叉点聚类中心并将交叉点聚类中心作为信号源位置。

可选地，第二确定模块还用于将信号源位置与预设现网工参基站位置进行匹配；当信号源位置与预设现网工参基站位置无法匹配时，则将信号源位置作为干扰源位置。