[发明专利]一种薄壁叶片余量去除顺序规划方法

权利要求书

1.一种薄壁叶片余量去除顺序规划方法，其特征在于步骤如下：

步骤1：将叶根装夹的叶片进行有限元划分，得到叶片的刚度矩阵K^G；

步骤2：依据叶片整体的刚度矩阵，计算待加工曲面的变形场；

步骤2.1：将叶片待加工曲面的有限元节点作为离散点{P₁，P₂，…，P_m}，并在离散点对应的法向N＝[n_x，n_y，n_z]^T施加单位力进行节点的位移测试，计算公式如下：

K^G(δ(P₁)，δ(P₂)，…，δ(P_m))＝(F(P₁)，F(P₂)，…，F(P_m))

其中，δ(P_m)表示为所有的节点在单位力F(P_m)的作用下的位移向量；

步骤2.2：选取离散点{P₁，P₂，…，P_m}对应的变形量{δ₁，δ₂，…，δ_m}，依据叶片曲面在弧长参数域的(u，v)方向，采用双线性插值计算待加工曲面的法向变形场G_n；

步骤2.3：考虑到变形误差被认定为法线方向的位移，变形误差的法向变形场表示为G_n，n：

G_n，n＝N^TG_n

步骤3：评定给定的加工轨迹变形程度，并规划最优的加工轨迹；

步骤3.1：将离散点{P₁，P₂，…，P_m}按照给定的加工轨迹组成与加工时刻s相关的序列，s＝0，1，…，m，表示为：

CP＝[P_i，P_j，…，P_k]

其中，CP为加工轨迹序列；同时CP(s)＝P_i，用s＝0表示未加工；

步骤3.2：利用变形误差的法向变形场G_n，n计算不同加工时刻s下的局部变形量q(s)，公式如下，

步骤3.3：根据局部变形量计算全过程变形量Q，公式如下：

步骤4：对于不同的加工轨迹，相应的序列CP对应的全过程变形量Q最小的加工轨迹是加工变形最小的轨迹，且叶片类薄壁零件的最优加工轨迹就是从叶尖向叶根行进给的平行切削轨迹。