[发明专利]一种面向存储器特征的增强型校验纠错装置

权利要求书

1.一种面向存储器特征的增强型校验纠错装置，其特征在于，包括：算法编码模块，设置在存储器的写通路上，用于根据M位数据生成N位校验码，并把数据位和校验位写入存储器，其中，校验码包括CRC校验码和偶校验码；算法解码模块，设置在存储器读通路上，用于根据K位数据进行以颗粒为单位的校验纠错；接口模块，一侧分别与算法编码模块和算法解码模块相连，另一侧与存储器相连，用于将算法编码模块输出的K位数据按照存储器颗粒个数进行分组，以及将存储器接口上的K位数据以每组16位的方式分成T组实现数据重映射，其中，K位数据以M位数据、CRC校验码和偶校验码的顺序排列，K＝M+N。

2.根据权利要求1所述的面向存储器特征的增强型校验纠错装置，其特征在于，所述算法编码模块包括CRC-16校验单元和第一偶校验单元，所述CRC-16校验单元根据M/16组数据通过CRC-16运算得到CRC校验码；所述第一偶校验单元将M/16组数据和CRC校验码进行按位异或运算得到偶校验码。

3.根据权利要求1所述的面向存储器特征的增强型校验纠错装置，其特征在于，所述算法解码模块包括第二偶校验单元、异或操作单元和纠错单元；所述第二偶校验单元将输入K位数据的前T-1组通过按位异或运算得到新的偶校验码；所述异或操作单元将所述偶校验码和新的偶校验码通过异或运算得到错误位置指示位；所述纠错单元根据错误位置指示位分别恢复K位数据的前T-2组数据，并对恢复后的数据分别重新生成新的CRC码，通过比较新的CRC码和所述CRC校验码确定错误的组并进行纠错。