[发明专利]一种用于交流电阻校准的数字采样方法及装置

权利要求书

1.一种用于交流电阻校准的数字采样方法，应用于交流电阻测量设备，所述设备包括：第一信号源、第二信号源、待测阻抗、参考阻抗、第一数据采集单元、第二数据采集单元及处理单元；其中，所述第一信号源的正极与所述待测阻抗的第一端连接，所述第一信号源的负极接地，所述第二信号源与参考阻抗的第一端连接，所述第二信号源的负极接地，所述待测阻抗的第二端与所述参考阻抗的第二端连接，所述第一数据采集单元的第一输入端与所述待测阻抗的第一端连接，所述第一数据采集单元的第二输入端与所述待测阻抗的第二端连接，所述第二数据采集单元的第一输入端与所述参考阻抗的第一端连接，所述第二数据采集单元的第二端与所述参考阻抗的第二端连接，所述第一数据采集单元的输出端与所述处理单元的第一输入端连接，所述第二数据采集单元的输出端与所述处理单元的第二输入端连接；所述第一信号源发出的信号与所述第二信号源发出的信号互为正交信号，所述第一数据采集单元用于采集所述待测阻抗两端的第一信号，所述第二数据采集单元用于采集所述参考阻抗两端的第二信号；其特征在于，所述方法包括：

调节所述第一信号源和/或所述第二信号源的输出功率，以使所述待测阻抗的第二端与所述参考阻抗的第二端之间的电流为零；

以第一采样点数及预设采样区间对所述第一信号采样，得到所述第一信号的第一采样数据；以第二采样点数及所述预设采样区间对所述第二信号采样，得到所述第二信号的第二采样数据；

根据所述第一采样数据确定所述第一信号的频率，根据所述第二采样数据确定所属第二信号的频率；

根据所述第一信号的频率确定第一采样补数，根据所述第二信号的频率确定第二采样补数；其中，所述第一采样补数和所述第二采样补数是用于补偿整采样点数以满足整周期条件的参数；

根据第一采样补数补充所述第一采样点数，得到第一补充后采样点数；根据第二采样补数补充所述第二采样点数，得到第二补充后采样点数；

根据所述第一补充后采样点数确定所述第一信号的离散模型，根据所述第二补充后采样点数确定所述第二信号的离散模型；

根据所述第一信号的离散模型和所述第二信号的离散模型确定所述待测阻抗的阻值和时间常数；

其中，所述根据所述第一信号的频率确定第一采样补数，根据所述第二信号的频率确定第二采样补数，包括：

根据f_a确定x_a(t)的周期T_a，

设置周期数为1，则所述第一采样补数△_a的表达式为：

其中，y_a0为所述第一采样数据中近0点的值，y_an为所述第一采样数据n处值，y_an+1为所述第一采样数据n+1处的值；

根据f_b确定x_b(t)的周期T_b，

设置周期数为1，则所述第二采样补数△_b的表达式为：

其中，y_b0为所述第二采样数据中近0点的值，y_bn为所述第二采样数据m处值，y_bn+1为所述第二采样数据m+1处的值；

所述根据第一采样补数补充所述第一采样点数，得到第一补充后采样点数；根据第二采样补数补充所述第二采样点数，得到第二补充后采样点数，包括：

确定所述第一补充后采样点数为n+△_a，确定所述第二补充后采样点数为m+△_b。