[发明专利]显示装置、感测显示装置中的像素的方法和显示面板

说明书

显示装置、感测显示装置中的像素的方法和显示面板。本公开涉及显示装置和感测方法。一种显示装置包括多个像素。所述多个像素中的至少一个包括有机发光二极管(OLED)和驱动晶体管。所述驱动晶体管与所述OLED串联连接，在所述OLED和所述驱动晶体管之间具有节点。在编程时段期间，所述驱动晶体管截止并且所述OLED导通。在放电时段期间，所述驱动晶体管截止并且在所述编程时段期间充入到所述节点上的电压通过所述OLED放电。在感测时段期间，所述OLED截止，并且所述驱动晶体管导通，以产生要感测的像素电流。

技术领域

本公开涉及有机发光显示装置，并且更具体地，涉及有机发光显示装置中的像素感测装置和像素感测方法。

背景技术

有源矩阵型有机发光显示装置包括自身发光的有机发光二极管OLED，并且具有诸如响应速度快、发光效率高、亮度高和视角广这样的优点。

有机发光显示装置将各自包括OLED的像素布置成矩阵形式，并且根据图像数据的灰度来调整像素的亮度。每个像素都包括根据驱动TFT的栅极和源极之间的电压(下文中被称为栅极-源极电压)来控制流过OLED的像素电流的驱动薄膜晶体管TFT，并且按OLED与像素电流成比例地发射的光的量来控制图像的亮度。

可以通过工艺变化来改变OLED的工作点电压(例如，OLED的导通电压、OLED的阈值电压)。另外，OLED具有其中随着发光时间的流逝，工作点电压偏移并且发光效率降低的劣化特性。根据工艺或劣化特性，OLED的工作点电压对于每个像素而言可能不同。如果OLED驱动特性对于不同的像素而言是不同的，则可能由于亮度偏差而发生图像残留(imagesticking)现象。

发明内容

为了补偿由于亮度变化而引起的图像质量下降，已知用于感测OLED驱动特性并且基于感测到的值来调制数字图像数据的补偿技术。传统的补偿技术通过利用OLED的寄生电容根据工艺或劣化特性而改变的性质来感测OLED驱动特性。即，传统的补偿技术感测在OLED的寄生电容器中累积的电荷量，并且基于感测到的电荷量来确定OLED驱动特性。

为了将传统的补偿技术应用于产品，根据工艺变化或劣化偏差的OLED寄生电容的差异必须大到足以被感测。然而，在以可溶性工艺形成OLED的情况下，根据工艺变化或劣化偏差的OLED寄生电容的差异可能太小，以致于不能被准确地感测。

因此，本公开提供了能够准确地感测OLED的驱动特性的有机发光显示装置中的像素感测装置和方法。

按照本发明的一方面，提供了一种显示装置，该显示装置包括多个像素。所述像素中的至少一个包括OLED和驱动晶体管。所述驱动晶体管与所述OLED串联连接，在所述OLED和所述驱动晶体管之间具有节点。在编程时段期间，所述驱动晶体管截止并且所述OLED导通。在放电时段期间，所述驱动晶体管截止并且在所述编程时段期间充入到所述节点上的电压通过所述OLED放电。在感测时段期间，所述OLED截止，并且所述驱动晶体管导通，以产生要感测的像素电流。

所述多个像素中的至少一个可以包括连接在所述节点和所述驱动晶体管的栅极之间的存储电容器。在所述编程时段期间，基准电压可以被施加到所述存储电容器的与所述节点连接的一端，并且使所述驱动晶体管截止的数据电压可以被供应到所述存储电容器的与所述驱动晶体管的所述栅极连接的一端。在所述放电时段期间，使所述驱动晶体管截止的数据电压可以被供应到所述存储电容器的与所述驱动晶体管的所述栅极连接的一端。要感测的所述像素电流可以是基于在所述编程时段期间充入到所述节点上的电压通过所述OLED放电之后保留在所述节点上的剩余电压的。

在所述编程时段期间，可以向所述节点施加基准电压，所述基准电压高于所述OLED的工作点电压。在所述编程时段和所述放电时段期间，可以向所述OLED的阴极施加第一电压，所述第一电压低于所述基准电压。在所述感测时段期间，可以向所述OLED的阴极施加第二电压，所述第二电压高于所述OLED的工作点电压。