[发明专利]基于FPGA的PSRAM存储器初始化方法、装置、设备及介质有效

专利信息
申请号: 201911125973.7 申请日: 2019-11-18
公开(公告)号: CN111009271B 公开(公告)日: 2020-09-29
发明(设计)人: 汤博先;杜辉;韩志伟;刘烈;刘建华;杜金凤 申请(专利权)人: 广东高云半导体科技股份有限公司
主分类号: G11C11/406 分类号: G11C11/406;G11C11/4076
代理公司: 深圳众鼎专利商标代理事务所(普通合伙) 44325 代理人: 詹建新
地址: 510000 广东省广*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 基于 fpga psram 存储器 初始化 方法 装置 设备 介质
【权利要求书】:

1.一种基于FPGA的PSRAM存储器初始化方法,其特征在于,包括:

在对PSRAM存储器执行读校准时,通过FPGA模块向所述PSRAM存储器写入待校验数据;

获取FPGA模块中输入输出延时可调电路的延时参数集;

遍历所述延时参数集中的每一个延时参数,按照所述延时参数执行延时操作,然后读取所述PSRAM存储器中的待校验数据,若所读取的待校验数据与所写入的待校验数据相同时,将所述延时参数标记为候选值;

从标记为候选值的所述延时参数中选择最优延时参数,写入所述FPGA模块中的输入输出延时可调电路;

所述遍历所述延时参数集中的每一个延时参数,按照所述延时参数执行延时操作,然后读取所述PSRAM存储器中的待校验数据,若所读取的待校验数据与所写入的待校验数据相同时,将所述延时参数标记为候选值包括:

获取延时参数最小值;

按照所得到的延时参数执行延时操作,然后从PSRAM存储器中读取待校验数据;

将所读取的待校验数据与所写入的待校验数据进行比较;

若所读取的待校验数据与所写入的待校验数据相同时,将所述延时参数标记为候选值;

若所读取的待校验数据与所写入的待校验数据不相同时,调整FPGA模块中的I/O逻辑电路的解串器相位;

按照调整后的解串器相位读取PSRAM存储器中的待校验数据;

将所读取的待校验数据与所写入的待校验数据进行比较;

若所读取的待校验数据与所写入的待校验数据相同,则将所述延时参数标记为候选值;

若所读取的待校验数据与所写入的待校验数据不相同,则继续调整解串器相位,并按照调整后的解串器相位执行下一次参数校验操作。

2.如权利要求1所述的基于FPGA的PSRAM存储器初始化方法,其特征在于,在将所述延时参数标记为候选值后,所述方法还包括:

判断所述延时参数是否小于延时参数最大值;

若所述延时参数小于延时参数最大值时,将所述延时参数增加1个步长得到下一个延时参数,按照所述下一个延时参数执行下一次延时操作及参数校验操作;

若所述延时参数大于或等于所述延时参数最大值时,结束遍历过程。

3.如权利要求2所述的基于FPGA的PSRAM存储器初始化方法,其特征在于,所述方法还包括:

在遍历所有解串器相位后,若所读取的待校验数据与所写入的待校验数据仍不相同,则将所述延时参数标记为非候选值。

4.如权利要求1所述的基于FPGA的PSRAM存储器初始化方法,其特征在于,所述从标记为候选值的所述延时参数中选择最优延时参数,写入所述FPGA模块中的输入输出延时可调电路包括:

从标记为候选值的所述延时参数中获取候选值连续序列;

选取候选值连续个数最多的候选值连续序列作为最优工作窗口;

选取所述最优工作窗口中的候选值的中值作为最优延时参数;

将所述最优延时参数写入所述FPGA模块中的输入输出延时可调电路。

5.如权利要求1至4任一项所述的基于FPGA的PSRAM存储器初始化方法,其特征在于,所述延时参数集包括从1开始的连续n个正整数。

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