[发明专利]基于测角法的长焦距激光三维成像仪畸变测试装置与方法在审

专利信息
申请号: 201911124504.3 申请日: 2019-11-18
公开(公告)号: CN110806572A 公开(公告)日: 2020-02-18
发明(设计)人: 王欣;刘强;窦永昊;黄庚华;舒嵘;何志平 申请(专利权)人: 中国科学院上海技术物理研究所
主分类号: G01S7/497 分类号: G01S7/497
代理公司: 上海沪慧律师事务所 31311 代理人: 郭英
地址: 200083 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 基于 测角法 焦距 激光 三维 成像 畸变 测试 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种基于测角法的长焦距激光三维成像仪畸变测试装置,包括平行光管焦面靶标装置(1)、平行光管(2)、激光三维成像仪(3)、二维转台(4)、辅助平面镜(5)、光电自准直仪(6)、隔振平台(7)、数据处理系统(8),其特征在于,

所述的测试装置中被均匀照明系统照亮的平行光管焦面靶标装置(1)经平行光管(2)准直后由激光三维成像仪(3)光学系统聚焦到成像探测器上,形成靶标影像,转动激光三维成像仪(3)下面支撑二维转台(4),转台上放置有辅助平面镜(5),转台外采用光电自准直仪(6)监测二维转台(4)转动角度,所有设备均放置于隔振平台(7)上;输入激光三维成像仪(3)靶标影像质心位置和光电自准直仪(6)监测角度,经过数据处理系统(8)计算获取激光三维成像仪(3)的畸变结果。

2.一种基于权利要求1所述的基于测角法的长焦距激光三维成像仪畸变测试装置的畸变测试的方法,其特征在于方法步骤如下:

1)平行光管焦面靶标装置(1)采用星点,星点大小计算为激光三维成像仪(3)单个探测器成像像元尺寸的5倍;

2)采用光电自准直仪(6)监测二维转台(4)转动Wi角,平行光管焦面靶标装置(1)星点在激光三维成像仪(3)焦面探测器上相应移动Li距离,测试视场点i根据视场大小总数量N不少于50个;

3)将二维转台(4)转动角Wi和激光三维成像仪(3)焦面星点位置Li输入到数据处理系统(8)中,首先处理激光三维成像仪(3)焦面星点位置Li数据,将每个i视场点采集的多副数据进行质心计算,排序,剔除两端各10%数据,再平均计算质心,获取最终Li数据;其次按照公式(1)计算激光三维成像仪(3)主距f;最后按照公式(2)计算畸变Di,绘制畸变随视场变化曲线,然后对畸变曲线进行高斯拟合,获得面阵探测器所有像元的畸变测试数据;

Di=Li-f tan Wi。 (2)

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