[发明专利]成像系统中系统组件的优化使用有效
| 申请号: | 201911099167.7 | 申请日: | 2019-11-12 |
| 公开(公告)号: | CN111190130B | 公开(公告)日: | 2022-08-26 |
| 发明(设计)人: | T.费维尔;M.科勒;H.伦茨;S.格鲁贝尔 | 申请(专利权)人: | 西门子医疗有限公司 |
| 主分类号: | G01R33/20 | 分类号: | G01R33/20;G01R33/38;A61B5/055 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 孙宛晨 |
| 地址: | 德国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 成像 系统 组件 优化 使用 | ||
1.一种用于确定成像系统(1)中系统组件(31-33)的利用的方法,在所述成像系统中在成像序列期间生成被检查对象的至少一个图像,所述成像系统包括初级侧(21)和次级侧(30),所述初级侧配置为向所述系统组件提供功率,从而导致在所述初级侧上的热负载,所述热负载不得超过预定的温度限制,所述次级侧包括在所述成像序列期间利用所述初级侧提供的功率的所述系统组件(31-33),所述方法包括:
在无需了解所述系统组件的使用如何影响所述初级侧的发热的关系的情况下,确定在所述成像序列期间所述系统组件(31-33)的利用,
使用所确定的利用来确定在所述成像序列期间由所述初级侧提供的时间平均功率,
在不超过所述预定的温度限制的情况下,确定在至少一个成像序列的持续时间内能够由所述初级侧(21)提供的最大时间平均功率,
确定所述时间平均功率是否小于所述最大时间平均功率,其中,当所述时间平均功率不小于所述最大时间平均功率时,调整在所述成像序列期间所述系统组件的使用,直到所述时间平均功率小于所述最大时间平均功率。
2.根据权利要求1所述的方法,其中,所述时间平均功率是基于以下假设确定的:描述当向所述系统组件(31-33)提供功率时所述初级侧的功率感应发热的第一时间常数远长于在所述成像序列期间连续利用所述系统组件(31-33)的时间段。
3.根据前述权利要求中的任一项所述的方法,还基于所述时间平均功率与所述最大时间平均功率的比较来确定优化的成像序列,使得针对所述成像序列优化以下参数中的至少一个:生成所述至少一个图像所需的时间和所述至少一个图像的图像质量参数。
4.根据权利要求1或2所述的方法,其中,确定所述时间平均功率包括:确定描述当向所述系统组件提供功率时所述初级侧的发热的参数的平均值;以及确定所述最大时间平均功率包括:确定所述参数的平均值的最大值。
5.根据权利要求4所述的方法,其中,所述参数是在所述成像序列期间由所述初级侧提供的电流的平方。
6.根据权利要求1或2所述的方法,其中,所述成像系统(1)是配置为生成MR图像的MR系统,其中,当确定所述时间平均功率时,确定在所述MR成像序列期间由所述初级侧(21)提供的所述时间平均功率。
7.根据权利要求6所述的方法,其中,所述系统组件(31-33)包括梯度场生成单元,所述梯度场生成单元用于生成在所述MR系统中施加的磁场梯度,其中,确定所述MR成像序列中的所述磁场梯度的利用,并确定在所述成像序列期间由所述初级侧提供的用于设置所述磁场梯度的平方电流的平均值。
8.根据权利要求7所述的方法,其中,考虑偏移电流来确定所述平方电流,所述偏移电流是与是否在所述成像序列中施加所述磁场梯度的事实无关而流动的。
9.根据权利要求7所述的方法,还包括以下步骤:确定至少一个参数α,所述参数α描述当施加所述磁场梯度时所施加的磁场梯度与由所述初级侧提供的电流之间的关系,其中,考虑所确定的至少一个参数α来确定所述平方电流的平均值。
10.根据权利要求6所述的方法,其中,所述成像序列是用于确定所述被检查对象中的扩散属性的扩散成像序列。
11.根据权利要求7所述的方法,其中,在所述MR系统中使用多个顺序成像序列,其中,考虑所述多个顺序成像序列中的每一个的相应的所述时间平均功率和所述最大时间平均功率来确定在所述多个顺序成像序列中施加的所述磁场梯度的利用。
12.根据权利要求1或2所述的方法,其中,通过对平均时段T内由所述初级侧(21)提供的功率进行平均来确定所述时间平均功率,其中,假设所述平均时段大于在所述成像序列期间所述系统组件连续切换的时间段。
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