[发明专利]一种对称光波束扫描系统及其工作方法有效

专利信息
申请号: 201911087585.4 申请日: 2019-11-08
公开(公告)号: CN110955042B 公开(公告)日: 2021-04-06
发明(设计)人: 赵杰;周之琰;余辉;杨建义 申请(专利权)人: 浙江大学
主分类号: G02B26/10 分类号: G02B26/10;G02B6/124;G02B6/12
代理公司: 杭州求是专利事务所有限公司 33200 代理人: 万尾甜;韩介梅
地址: 310058 浙江*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 对称 波束 扫描 系统 及其 工作 方法
【权利要求书】:

1.一种对称光波束扫描系统,其特征在于:按照光路顺序依次包括输入耦合器(1)、1x2光开关(2)、两组互相对称的分束调相子结构(3a)和(3b)以及光发射阵列(6);所述的分束调相子结构包括光分束网络(4)和光波导调相阵列(5);所述的光发射阵列(6)由对称光栅天线(7)组成;输入耦合器(1)的输出端与1x2光开关(2)的输入端相连,1x2光开关(2)的两个输出端通过单模光波导分别与两个分束调相子结构(3a)和(3b)相连,两组分束调相子结构(3a)和(3b)的输出端分别连接同一个光发射阵列(6)的两端;

对称光栅天线(7)为单根光波导沿长度方向进行周期性刻蚀所得的光栅结构,空间结构上对称,具有两个输入端口;对称光栅天线(7)可将从输入端口进入的光完全辐射出去,对称光栅天线(7)通过双端输入激光,一端输入的激光发射光束A,另一端输入的激光发射光束B,光束A和光束B是相互对称的。

2.根据权利要求1所述的一种对称光波束扫描系统,其特征在于:所述的1x2光开关(2)为单端光输入、双端光输出的热调制光开关或者电调制光开关,给1x2光开关(2)施加电压可以控制输入激光源只从一个输出端口传出。

3. 根据权利要求1所述的一种对称光波束扫描系统,其特征在于:所述的两个分束调相子结构(3a)和(3b) 的多路输出端分别通过单模光波导阵列与光发射阵列(6)的两个多路端口相连。

4.根据权利要求1所述的一种对称光波束扫描系统,其特征在于:所述的光发射阵列(6)由多个相同的对称光栅天线(7)等间距或不等间距排列而成。

5.根据权利要求1所述的一种对称光波束扫描系统,其特征在于:所述的光分束网络(4)由多个1x2多模干涉耦合器级联而成,能将一路光均分为功率相等的多路光,并输出给光波导调相阵列(5)。

6.根据权利要求1所述的一种对称光波束扫描系统,其特征在于:所述的光波导调相阵列(5)采用热调制或者电调制结构,通过外加电压独立控制每路输出光的相位,从而实现光发射阵列(6)的侧向光束扫描。

7.根据权利要求1所述的一种对称光波束扫描系统,其特征在于:所述的系统置于衬底硅上,采用标准220nm硅光工艺。

8.根据权利要求1-7任一项所述的对称光波束扫描系统的工作方法,其特征在于,步骤如下:外接激光源从输入耦合器(1)耦合进入系统光路,然后进入1x2光开关(2),控制1x2光开关(2)使激光只经过分束调相子结构(3a),系统发射光束A;控制1x2光开关(2)使激光只经过分束调相子结构(3b),系统发射光束B;激光最终从光发射阵列(6)辐射出去;其中,所述的光束A和光束B相互对称;

该系统通过改变输入激光的光波长,改变发射光束A和B的角度θ,实现纵向光束扫描;该系统通过光波导调相阵列(5)控制到达光发射阵列(6)的每路激光的相位,实现垂直于角度θ的侧向光束扫描;二者结合,可实现二维光波束的连续扫描。

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