[发明专利]一种判断油水井吸水状况的方法有效

专利信息
申请号: 201911076620.2 申请日: 2019-11-06
公开(公告)号: CN110863807B 公开(公告)日: 2022-05-10
发明(设计)人: 邓志颖;姬振宁;张随望;陆小兵;王勇;唐泽玮;王尔珍 申请(专利权)人: 中国石油天然气股份有限公司
主分类号: E21B43/20 分类号: E21B43/20;E21B47/00;E21B49/00
代理公司: 西安吉盛专利代理有限责任公司 61108 代理人: 赵娇
地址: 100007 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 判断 油水 吸水 状况 方法
【权利要求书】:

1.一种判断油水井吸水状况的方法,其特征在于,包括以下步骤:

步骤1)选择油水井中的任意一层,以垂深为X轴,确定该层油层顶深和油层底深位置,其中X轴坐标范围为油层顶深到油层底深,同时以同位素曲线的计数率为Y轴,其中Y轴坐标的最大值为从井口到油层底深的同位素曲线最大值Ymax;

步骤2)结合X轴坐标的最大值、Y轴坐标的最大值和在油层顶深和油层底深之间同位素曲线与自然伽马曲线之间的面积,确定不均匀系数,所述X轴坐标的最大值为油层底深,Y轴坐标的最大值为从井口到油层底深的同位素曲线在Y轴坐标的最大值,同位素曲线与自然伽马曲线之间的面积为S,其中同位素曲线与自然伽马曲线在每小层之间的面积为Si,其中i=1、2、3,该层的不均匀系数为C,其中每小层的不均匀系数Ci,i=1、2、3,其中不均匀系数的计算公式如下:

C=C1×C2×C3

式中:

Ci为每小层的不均匀系数,小数;

C为该层的不均匀系数,小数;

Si为同位素曲线与自然伽马曲线在每小层之间的面积,API·m;

Ymax为从井口到油层底深的同位素曲线在Y轴坐标的最大值,API;

H0为油层顶深,m;

H1为油层底深,m;

步骤3)结合同位素曲线在X轴坐标分布情况,确定同位素曲线在X轴坐标的有效范围,结合同位素曲线在X轴坐标分布情况,确定同位素曲线在X轴坐标的有效范围h,同位素曲线在X轴坐标上的数值范围为Hi-Hj,其中i=1、2、3,i为同位素曲线在每小层垂深上的初始值,j=1、2、3为同位素曲线在每小层垂深上的终止值,其对应在X轴坐标上的范围值为Xi,其中i=1、2、3;

步骤4)根据不均匀系数和同位素曲线在X轴坐标有效范围,确定油水井该层吸水状况和吸水程度,首先确定同位素曲线在Y轴上的最大占比λ,其中同位素曲线在Y轴上的最大占比λ为整条同位素曲线在该层Y轴最大的占比,其次根据最大占比λ划分吸水类型,接着根据该层的不均匀系数C及每小层的不均匀系数Ci和同位素曲线在X轴坐标上每小层的有效范围hi确定吸水状况和吸水程度;

步骤5)重复步骤1)~4),确定多个油水井每层的吸水状况和吸水程度,并将多个油水井每层所得数据、吸水程度和吸水状况统计,便于随时查看或措施前后分析对比。

2.根据权利要求1所述的一种判断油水井吸水状况的方法,其特征在于,所述步骤1)中油层顶深为H0,油层底深为H1,并将油层顶深H0和油层底深H1之间段在X轴坐标范围规定为0~1。

3.根据权利要求2所述的一种判断油水井吸水状况的方法,其特征在于,所述步骤1)中将X轴坐标范围平均划分为三等份,分别对应该层的上、中、下三小层,其中上、中、下三小层分别标记为1、2、3。

4.根据权利要求1所述的一种判断油水井吸水状况的方法,其特征在于,所述步骤2)中同位素曲线与自然伽马曲线在每小层之间的面积Si为同位素曲线在每小层的放射性强度异常面积,同时同位素曲线在每小层的放射性强度异常面积Si在测井剖面资料中查得,另外根据同位素曲线确定在油层深度范围内的同位素曲线在Y轴坐标的最大值Jrmax

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