[发明专利]分析装置、分析方法和存储介质

权利要求书

1.一种分析装置，基于从测量对象产生的荧光X射线，获取与所述测量对象中包含的元素相关的信息，所述分析装置的特征在于包括：

X射线测量装置，测量所述荧光X射线；

光学特性测量装置，获取所述测量对象中包含的碳化合物的所述荧光X射线以外的光学特性；以及

运算部，基于所述碳化合物的光学特性，计算与所述测量对象中包含的所述碳化合物的量相关的信息，并且基于计算出的与所述碳化合物的量相关的信息，修正与由所述X射线测量装置测量的所述荧光X射线相关的信息。

2.根据权利要求1所述的分析装置，其特征在于，所述光学特性测量装置具有测量所述测量对象的光学特性的传感器。

3.根据权利要求2所述的分析装置，其特征在于，所述传感器是获取所述测量对象的图像数据的图像获取传感器。

4.根据权利要求3所述的分析装置，其特征在于，所述光学特性测量装置具有配置在所述传感器和所述测量对象之间的滤光器。

5.根据权利要求2～4中任意一项所述的分析装置，其特征在于，所述光学特性测量装置具有向所述测量对象照射光的光源。

6.根据权利要求5所述的分析装置，其特征在于，所述光源是白色光源。

7.根据权利要求1～6中任意一项所述的分析装置，其特征在于，所述运算部基于可见光区域中的所述碳化合物的光学特性，计算所述测量对象中包含的黑碳的含量。

8.根据权利要求1～7中任意一项所述的分析装置，其特征在于，所述运算部基于可见光区域中的所述碳化合物的光学特性，计算所述测量对象中包含的有机碳的含量。

9.根据权利要求1～8中任意一项所述的分析装置，其特征在于，所述运算部基于红外区域中的所述碳化合物的光学特性，计算所述测量对象中包含的有机碳的含量。

10.根据权利要求1～9中任意一项所述的分析装置，其特征在于，所述运算部基于红外区域中的所述碳化合物的光学特性，计算所述测量对象中包含的黑碳的含量。

11.根据权利要求1～10中任意一项所述的分析装置，其特征在于，还包括捕集所述测量对象的捕集过滤器。

12.一种分析方法，基于从测量对象产生的荧光X射线，获取与所述测量对象中包含的元素相关的信息，所述分析方法的特征在于包括：

检测所述荧光X射线的步骤；

获取所述测量对象中包含的碳化合物的所述荧光X射线以外的光学特性的步骤；

基于所述碳化合物的光学特性，计算与所述测量对象中包含的所述碳化合物的量相关的信息的步骤；以及

基于与所述碳化合物的量相关的信息，修正与所述荧光X射线相关的信息的步骤。

13.一种存储介质，存储有用于使计算机执行基于从测量对象产生的荧光X射线来获取与所述测量对象中包含的元素相关的信息的方法的程序，所述存储介质的特征在于，

所述方法包括：

检测所述荧光X射线的步骤；

获取所述测量对象中包含的碳化合物的所述荧光X射线以外的光学特性的步骤；

基于所述碳化合物的光学特性，计算与所述测量对象中包含的所述碳化合物的量相关的信息的步骤；以及

基于与所述碳化合物的量相关的信息，修正与所述荧光X射线相关的信息的步骤。