[发明专利]磁共振成像方法及系统、计算机可读存储介质在审

专利信息
申请号: 201911028768.9 申请日: 2019-10-28
公开(公告)号: CN112716476A 公开(公告)日: 2021-04-30
发明(设计)人: 王龙庆;汤伟男;王坤;汪洪彬;赖永传;么佳斌 申请(专利权)人: 通用电气精准医疗有限责任公司
主分类号: A61B5/055 分类号: A61B5/055
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 侯颖媖;钱慰民
地址: 美国威*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 磁共振 成像 方法 系统 计算机 可读 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种磁共振成像方法,包括:

执行预扫描,其中,针对多个切片分别执行第一序列和第二序列;在第一序列中,连续获得两次回波以分别获得具有第一相位偏移的第一图像数据和第二图像数据;在第二序列中,连续获得两次回波以分别获得具有第二相位偏移的第三图像数据和第四图像数据,所述第一相位偏移和第二相位偏移的方向相反、角度相同;

基于所述第一图像数据、第二图像数据获取分别对应所述多个切片的多个射频场图,并基于所述第一图像和第三图像、第二图像和第四图像中的至少一组获取分别对应所述多个切片的多个静磁场图;

基于每个射频场图和对应的静磁场图中的至少一个计算适于对应的切片的正式扫描参数。

2.如权利要求1所述的方法,其中,基于所述第一图像数据和第二图像数据之间的数据差以及所述第三图像数据和第四图像数据之间的数据差的其中之一获取对应切片的射频场图。

3.如权利要求1所述的方法,其中,基于所述第一图像数据和第三图像数据之间的数据差以及所述第二图像数据和第四图像数据之间的数据差中的至少一个获取对应切片的静磁场图。

4.如权利要求1所述的方法,其中,计算适于对应的切片的正式扫描参数包括:基于对应切片的静磁场图计算适于该切片的中心频率和梯度匀场值。

5.如权利要求1所述的方法,其中,计算适于对应的切片的正式扫描参数包括:基于对应切片的射频场图计算适于该切片的发射增益。

6.如权利要求1所述的方法,其中,在第一序列中,在回波之前施加第一移相脉冲,在第二序列中,在回波之前施加第二移相脉冲,所述第一移相脉冲的频率相较当前采用的共振频率具有正向偏移,所述第二移相脉冲的频率相较当前采用的共振频率具有负向偏移,所述第一移相脉冲和第二移相脉冲的频率相较所述当前采用的共振频率的偏移幅度相同,以使得所述第三图像数据与第一图像数据、第四图像数据与第二图像数据分别产生方向相反、角度相同的相位偏移。

7.如权利要求6所述的方法,其中,所述第一移相脉冲和第二移相脉冲为费米脉冲。

8.如权利要求1所述的方法,其中,所述多个切片是在正式扫描时扫描的一系列切片中选择的一部分切片,所述方法还包括:,基于被选择的切片的正式扫描参数估计未被选择的切片的正式扫描参数。

9.如权利要求8所述的方法,其中,基于被选择的切片的正式扫描参数执行插值算法来估计未被选择的切片的正式扫描参数。

10.如权利要求1所述的方法,其中,采用参考扫描参数来执行所述预扫描,并基于每个射频场图和对应的静磁场图中的至少一个以及所述参考扫描参数计算适于对应的切片的正式扫描参数。

11.如权利要求1所述的方法,其中,还包括:基于所述第一图像数据、第二图像数据、第三图像数据或第四图像数据获取掩膜图像,并基于所述掩膜图像去除所述静磁场图和射频场图中非感兴趣组织的数据;计算对应切片的正式扫描参数的步骤包括:基于去除了非感兴趣组织的数据后的每个射频场图和对应的静磁场图中的至少一个计算适于该切片的正式扫描参数。

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