[发明专利]非接触式的待测件外形尺寸测量装置

说明书

本发明提供一种非接触式的待测件外形尺寸测量装置，包括：激光器，作为光源，用以发射光束；衰减器，用以衰减所述激光器发射出的光束的功率；准直扩束透镜组，用以把经过所述衰减器的光束扩散为平行光；载物台，所述载物台是可旋转的，用以放置待测件，使所述待测件位于所述扩散后的平行光束的光路中；电荷耦合元件，用以接收所述平行光束经过所述待测件后的光学影像信息将该光学影像信息转换成数字信号，并将该数字信号传输给计算机，用以计算出所述待测件的外形尺寸。本实施例有效避免了环境因素对测量结果的干扰也提高了电荷耦合元件的使用寿命，同时使得测量过程更具自动化，具有很好的应用潜力。

技术领域

本发明属于光学测量技术领域，涉及一种非接触式的待测件外形尺寸测量装置。

背景技术

非接触式的待测件外形尺寸测量是光电技术与机械测量结合的高科技，借用计算机技术，可以实现对待测物的外形尺寸进行快速，准确的测量，非接触式的待测件外形尺寸测量主要应用在现代工业检测。但是，在测量时，为得到更精确的测量结果，测试人员会随时根据需要来手动旋转待测件，使得测试较为冗杂，同时在测量时，空气中的潮气和灰尘也会对电荷耦合元件(Charge-Coupled-Device，CCD)产生干扰，不仅降低CCD的使用寿命，也会影响到测试结果。

发明内容

本发明提供一种非接触式的待测件外形尺寸测量装置，包括：激光器，作为光源，用以发射光束；衰减器，用以衰减所述激光器发射出的光束的功率；准直扩束透镜组，用以把经过所述衰减器的光束扩散为平行光；载物台，所述载物台是可旋转的，用以放置待测件，使所述待测件位于所述扩散后的平行光束的光路中；电荷耦合元件，用以接收所述平行光束经过所述待测件后的光学影像信息将该光学影像信息转换成数字信号，并将该数字信号传输给计算机，用以计算出所述待测件的外形尺寸。

本发明通过设置一防尘箱，有效防止了测量环境中灰尘和潮气对CCD的影响，避免了环境因素对测量结果的干扰也提高了CCD的使用寿命；通过设置所述载物台为可旋转的，将待测件放置在所述可旋转的载物台上，可避免在测量过程中需要人主动去旋转载物台或者改变待测件位置的操作，使得测量过程更具自动化，精简了测量过程，因此本发明实施例的非接触式的待测件外形尺寸测量装置具有很好的应用潜力。

附图说明

图1是本发明实施例非接触式的待测件外形尺寸测量装置的示意图。

图2是图1中载物台的放大示意图。

主要元件符号说明

非接触式的待测件外形尺寸测量装置 10

激光器 100

衰减器 110

准直扩束透镜组 120

凸透镜 120a

凹透镜 120b

载物台 130

载物台底部 130a

载物台上部 130b

待测件 140

CCD 150

防尘箱 160