[发明专利]LED发光检测系统及LED发光检测方法

权利要求书

1.一种LED发光检测系统，其特征在于，包括光检测装置、可调滤光器和成像镜头组，所述成像镜头组设置在所述可调滤光器和LED芯片阵列之间，所述光检测装置用于采集所述LED芯片阵列中各个LED芯片在通过所述可调滤光器和所述成像镜头组后的发光强度，所述可调滤光器具有位置可调的滤光区域。

2.根据权利要求1所述的LED发光检测系统，其特征在于，所述可调滤光器的滤光区域对应至所述LED芯片阵列中的单个或部分LED芯片。

3.根据权利要求2所述的LED发光检测系统，其特征在于，所述可调滤光器的滤光区域允许特定区域和/或特定角度的入射光入射，以使所述单个或部分LED芯片的光由所述滤光区域通过。

4.根据权利要求1-3任一项所述的LED发光检测系统，其特征在于，所述光检测装置包括光功率计或者电荷耦合器件CCD摄像机。

5.根据权利要求1-3任一项所述的LED发光检测系统，其特征在于，所述滤光区域具有可调的滤光光谱范围。

6.根据权利要求1-3任一项所述的LED发光检测系统，其特征在于，还包括电检测组件，所述电检测组件和所述LED芯片电连接，用于检测所述LED芯片在发光时的电流和/或电压。

7.一种LED发光检测方法，其特征在于，所述方法应用于权利要求1-6任一项所述的LED发光检测系统，所述方法包括：

点亮LED芯片阵列；

将可调滤光器的滤光区域顺次调节至不同位置，以使所述可调滤光器在单次滤光时允许所述LED芯片阵列中的单颗或部分LED芯片的光通过，其中不同滤光区域的位置与所述LED芯片阵列中不同LED芯片相对应；

获得所述LED芯片阵列中单颗或部分所述LED芯片的发光功率和光谱特性。

8.根据权利要求7所述的LED发光检测方法，其特征在于，所述将可调滤光器的滤光区域顺次调节至不同位置，以使所述可调滤光器在单次滤光时允许LED芯片阵列中的单颗或部分LED芯片的光通过，具体包括：

将所述可调滤光器调节至允许特定区域和/或特定角度的入射光入射，以使所述LED芯片阵列中的单颗或部分LED芯片的光通过。

9.根据权利要求7或8所述的LED发光检测方法，其特征在于，所述顺次调节可调滤光器，以使所述可调滤光器每次允许LED芯片阵列中的单颗LED芯片导光通过，具体包括：

调节所述可调滤光器允许透过光的光谱范围，以获得所述LED芯片在预设光谱范围内的发光强度。

10.根据权利要求7或8所述的LED发光检测方法，其特征在于，还包括：获得每颗所述LED芯片在发光时的电压和/或电流。